聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d 核心参数
仪器分类: | 坩埚炉 |
详细介绍
聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d
日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台,广获全球科研及工业用户的赞誉,成为热电材料领域应用广泛的测试设备。2019年,在此前的成功基础上,ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。
与之前ZEM系列产品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。
ZEM-d测量原理
现存测试方法 | ZEM-d(厚度方向测量) |
电阻率测量原理
塞贝克系数测量原理
ZEM-d技术参数
测量参数 塞贝克系数,电阻率
温度范围 可达200℃(样品表面)
样品尺寸 截面:Φ20mm(Max),长度:0.01-20mm
测量氛围 空气或惰性气体
软件界面
测试数据
铜合金的塞贝克系数测量结果
产品优势
聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品薄为10μm。
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