法国HORIBA JY/HORIBA Jobin Yvon

器介绍：在镀膜或刻蚀的过程中，实时监测样品膜的膜厚以及光学常数（n,k）变化。技术参数：可实现快速、实时在线监测样品膜层变化主要特点：将激发和探测头引入生产设备，可实现: 动态模式:实时监测膜厚变化

VISEL2是一款完全革新的全自动光谱型椭偏仪。继承并发展了经典机型UVISEL的高准确性、高灵敏度和高稳定性等技术特点的同时，配备革新的可视系统，多达8个尺寸微光斑选项，最小达35×85μm2，适用

D-Profiler HR拥有duyi无二的超高光谱分辨率，为解决复杂基体中的疑难问题提供了适宜、便利的方法。技术参数：1、射频发生器-标准配置、复合D级标准、稳定性高、溅射束斑极为平坦、等离子体稳定

D-Profiler 2是一款可进行超快镀层分析的理想工具，非常适合于导体（和/或）非导体复合镀层的分析。可分析70多种元素，其中包括C、H、O、N和Cl。一次测试可轻松获取镀层元素深度分布、镀层厚度

理：等离子体分析飞行时间质谱仪结合了辉光放电等离子体的溅射速度和时间飞行质谱的快速以及高灵敏度，实现了高分辨率和高灵敏度条件下固体材料的快速化学深度剖析。ZD应用领域：● 掺杂分析（半导体、光电子、太

器简介： 电子束入射到样品上，即可用光学方法接收并分析阴极发光（CL），从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法，结合电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果，是纳米结构和体材料的独特分析

器简介： 电子束入射到样品上，即可用光学方法接收并分析阴极发光（CL），从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法，结合电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果，是纳米结构和体材料的独特分析

ynapse CCD是现代光谱测量从简单的吸收光谱到最困难的拉曼或光致发光测量最wan美的解决方案。这台紧凑型CCD 探测器可与所有HORIBA Jobin Yvon 光谱仪连接，为任何实验都提供高灵

ymphony系列CCD探测器是世界上光学光谱研究领xian者HORIBA Jobin Yvon公司的一类阵列探测器。Symphony CCD探测器集高灵敏度、高速率、低噪音、坚固耐用，紧凑及高性价比

ORIBA Jobin Yvon是全球的科研级光谱仪制造商，我们将在科研级光谱仪研发生产中获取的宝贵技术经验移植到OEM定制化光谱仪中，与全球知名光谱系统制造商携手合作，向后者长期批量供应OEM定制化

ORIBA科学仪器部InGaAs阵列探测器，是近红外NIR弱信号探测的理想选择，拥有可以测量到0.8-1.7μm和1-2.2μm的两种类型，制冷可以采用TE制冷或者液氮制冷的方式。可以与HORIBA