详细介绍
总览
Optical Waveguide Polishing and Inspection
Cila 2.0光学波导，光纤阵列V型槽抛光和检测系统可以抛光和检测多种类型的光波导、多光纤阵列V型槽，以及需要共面、平面、倾斜或多面端面的类似组件。该系统配备了一个剖面图，高分辨率摄像机，允许用户监控抛光过程，进行余量去除和角度验证。具有精确定位能力的明视场检测系统，能够对设备抛光端面进行质量检测。
技术参数
产品特点
缺陷和无断裂零件浇注，精确到+/-0.01度
钛/聚醚醚酮混合嵌件夹具，用于提高亚微型零件的耐用性
用于较大波导和阵列的可调宽度夹具
精密进料，用于精确的余量去除和长度控制(1 um长度控制)
抛光角度验证和长度测量的计量选项
利用高分辨率摄像机和精密玻璃光学器件，可定位明视场视频检测能力。通过500倍的放大率查看所有关键区域/边缘
左:适用于较大波导和阵列的可调宽度夹具 右:适用于超小型阵列的精密夹具
玻璃、硅和类似材料的无切屑精确获取
抛光/寄生角和长度测量
在线端面检查、抛光/寄生角和长度测量
产品优势
Cila 2.0光学波导，光纤阵列V型槽抛光和检测系统可以抛光和检测多种类型的光波导、多光纤阵列V型槽，以及需要共面、平面、倾斜或多面端面的类似组件
