可以与Gamry电化学工作站同步运行，能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散，进而分析反应过程中微小的质量变化，吸附层厚度变化等；能够判断膜的刚性或柔性，并且分析膜的粘弹性方面的性质；以及实...

能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散，进而分析反应过程中微小的质量变化，吸附层厚度变化等；能够判断膜的刚性或柔性，并且分析膜的粘弹性方面的性质；以及实时追踪分子排列、结构变化等. 阻...

QCM-I 耗散型石英晶体微天平是基于对石英晶片进行阻抗分析基础上的高度灵敏的质量传感器，能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散，进而分析反应过程中微小的质量变化，吸附层厚度变化等；能够判断...