天津拓普 TP-OEC1 CCD 综合实验系统

产品介绍：

TP-OEC1 CCD 综合实验系统是在《光电子学》课程重要章节《CCD 原理与应用》的基础上开发的综合实验。该实验采用模块化、开放式设计，直观展现了线阵、面阵CCD 的工作原理，并且设置了工程实践常用的测试项 目实验，是学生认识和理解CCD 工作原理与应用实际的理想教学实验系统。

主要实验内容

1. 线阵CCD驱动实验

2. 线阵CCD特性测量实验

3. 线阵CCD二值化实验

4. 工件直径测量实验

5. 角位测量实验

面阵：

1. 面阵CCD驱动实验

2. 面阵CCD特性测量实验

3. 面阵CCD数据采集实验

4. 图像点运算实验

5. 工件二维尺寸测量实验

6. 印刷品颜色检测实验

知识点

CCD基本工作原理、转移效率、移动损失率、工作频率、光电转移特性、光谱响应、动态范围、暗电流、分辨率、积分时间、CCD驱动时序、CCD信号处理与计算机数据采集。