M470微区扫描探针电化学工作站包含了以下9项技术
- 扫描电化学显微镜(SECM)
- 交流扫描电化学显微镜(ac-SECM)
- 间歇接触扫描电化学显微镜(ic-SECM) - 扫描振动电极测试(SVET) - 扫描开尔文(Kelvin)探针测试(SKP) - 微区电化学阻抗测试(LEIS) - 扫描电解液微滴测试(SDS)
- 交流扫描电解液微滴测试(ac-SDS) - 非触式微区形貌测试(OSP)
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