HORIBA 纳米颗粒分析仪 SZ-100 V2

产品介绍：

SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。

SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。

产品特点

·  同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数

·  宽检测范围，宽浓度范围——样品浓度可达40%

·  自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

·  软件操作简单功能强大，一键测量

·  双光路双角度粒径测量（90° 和173°）

·  采用微量样品池

技术参数

粒径测量原理：动态光散射法（光子相关光谱法）

粒径测定范围：0.3nm ～10μm

粒径测量精度：±2%（NIST 可溯源标准粒子100nm）

Zeta 电位测量原理：激光多普勒电泳法

Zeta 电位测量范围：-500 mV ～ +500 mV

分子量测量原理：Debye plot

分子量测量范围：1000 ～ 2×107 Da

测量角度：90° 和173°（可自动或手动选择）

样品量：12μL ～ 1000μL