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上海昊量光电设备有限公司
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Hinds偏振成像设备

 
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美国Hinds   150AT应力双折射测量系统
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号:150AT
  • 产地:美国
  • 品介绍:150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,晶体,单晶硅/多

美国Hinds   大型液晶面板高精度应力分布测量系统
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号:birefringence_measurement_syst
  • 产地:美国
  • 品简介Hinds大型液晶面板高精度应力双折射分布测量系统大尺寸,高精度液晶基板应力分布测量!Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布测量系统专用于LED液晶玻璃基板

美国Hinds   非球面透镜应力双折射测量系统
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号:Exicor-OIA
  • 产地:美国
  • 品简介:利用光弹调制器技术,Hinds 公司的应力双折射测量系统可以在深紫外(193nm)波段进行应力双折射探测。针对特定材料制作(氟化钙)和特定形状(非球面透镜)有着du家的技术解决方案。

美国Hinds   高精度偏振态(斯托克斯量)测量系统
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号:Stokes_Polarimeter
  • 产地:美国
  • 用光弹调制器技术,Hinds公司的科研级高精度偏振态量测量系统可以获得比一般偏振测量一高出一个数量级的精度(Stokes parameter sensitivity: 0.0001)。速度上,也可以从

美国Hinds   双折射显微成像系统(abrio替代产品)
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号:MicroImager
  • 产地:美国
  • inds Instruments 公司的MicroImager偏振显微/双折射显微成像系统是一款基于穆勒矩阵的偏振显微镜,可以测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,并配合ccd多个像素元形

美国Hinds  成像型穆勒矩阵测量系统 Mueller_Polarimeter_150XT
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号: Mueller_Polarimeter_150XT
  • 产地:美国
  • 勒矩阵测量系统高速高精度穆勒矩阵测量系统150XT 型穆勒矩阵椭偏仪是Hinds公司研发的一款高速高精度穆勒矩阵测量系统,在不到一秒内即可实时测得穆勒矩阵16组参数或者其他样品完整偏振特性。

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