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主营产品:红外水分测定仪,纳米压痕仪/纳米划痕仪,原子吸收光谱仪/原子吸收分光光度计,激光
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半微量分析天平AUW-D系列
  • 品牌:日本岛津-GL
  • 型号: AUW-D系列
  • 产地:日本
  • 样册:暂无
  • 供应商报价: 面议
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半微量分析天平AUW-D系列 核心参数
仪器类型: 托盘天平 量程: 0-5g
详细介绍

              

率先在AUW-D系列半微量天平中使用新一代传感器Unibloc

  全自动内校:PSC和Clock-CAL

使用者可以使用两中全自动校准模式。“PSC”是根据当温度发生变化,天平会自动校准,而“Clock-CAL” 是在预定的时间,天平会自动校准。

 GLP/GMP/ISO校准记录

通过打印机,校准记录可以自动打印输出。
时间、日期可以打印输出,符合GLP/GMP/ISO要求

 Windows直通视窗

测定数据可直接输到Windows应用程序上,无需安装其它软件。
如果您要把“Windows直通视窗”用在“Windows  7”、“Windows VISA ”或者USB输出中,可联系我们当地dai理商。

 





型号量程(g)精度(mg)重复性(mg)线性(mg)平均响应时间(S)称盘尺寸(mm)
AUW220D220/820.1/0.010.1/0.050.2/0.13/1580
AUW120D120/420.1/0.010.1/0.020.2/0.033/1280


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