晶片或LCD和TFT的检验、过程控制和缺陷分析必须快速、精确并符合人体工学. Leica DM8000 M和DM12000 M光学检验显微镜提供了一个创新而性价比高的系统解决方案，帮助客户充满信心地应对现在和未来的手动检验挑战。除了视场和高分辨率光学部件，这些系统还采用了高度人性化的设计和全内置的LED照明，可以从不同角度照亮样品。

更大的视场，更快速的检验

Leica DM8000 M和Leica DM12000 M集成的宏观模式为您提供了4倍于常规描物镜的视场。看得更多也就意味着更快的效率。

各个角度均可获得高分辨率

新的Oblique UV (OUV)模式组合了斜射照明和紫外线，让您可以从任意角度以高分辨率查看样品一并提高了检验结果的精确度。