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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke 3K,4K系列
- 产地：美国
Duke4K-25粒子计数器标准3K,4K系列 l使用NIST可溯源尺寸标准 l广泛用于洁净室和其他污染检测 l背景干扰程度低 本产品是单分散聚苯乙烯微球（PSL）悬浮液，用于气态
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke 3K,4K系列
- 产地：美国
Duke4K-30粒子计数器标准3K,4K系列 l使用NIST可溯源尺寸标准 l广泛用于洁净室和其他污染检测 l背景干扰程度低 本产品是单分散聚苯乙烯微球（PSL）悬浮液，用于气态
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke 3K,4K系列
- 产地：美国
Duke4K-40粒子计数器标准3K,4K系列 l使用NIST可溯源尺寸标准 l广泛用于洁净室和其他污染检测 l背景干扰程度低 本产品是单分散聚苯乙烯微球（PSL）悬浮液，用于气态
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke 3K,4K系列
- 产地：美国
Duke4K-50粒子计数器标准3K,4K系列 l使用NIST可溯源尺寸标准 l广泛用于洁净室和其他污染检测 l背景干扰程度低 本产品是单分散聚苯乙烯微球（PSL）悬浮液，用于气态
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke 3K,4K系列
- 产地：美国
Duke4K-60粒子计数器标准3K,4K系列 l使用NIST可溯源尺寸标准 l广泛用于洁净室和其他污染检测 l背景干扰程度低 本产品是单分散聚苯乙烯微球（PSL）悬浮液，用于气态
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke 3K,4K系列
- 产地：美国
Duke4K-70粒子计数器标准3K,4K系列 l使用NIST可溯源尺寸标准 l广泛用于洁净室和其他污染检测 l背景干扰程度低 本产品是单分散聚苯乙烯微球（PSL）悬浮液，用于气态
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke 3K,4K系列
- 产地：美国
Duke4K-100粒子计数器标准3K,4K系列 l使用NIST可溯源尺寸标准 l广泛用于洁净室和其他污染检测 l背景干扰程度低 本产品是单分散聚苯乙烯微球（PSL）悬浮液，用于气
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke 3K,4K系列
- 产地：美国
Duke4K-80粒子计数器标准3K,4K系列 l使用NIST可溯源尺寸标准 l广泛用于洁净室和其他污染检测 l背景干扰程度低 本产品是单分散聚苯乙烯微球（PSL）悬浮液，用于气态
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke SURF-CAL
- 产地：美国
DukePD-047SURF-CAL尺度标准微粒 NIST可溯源尺度标准，用于需要高度视觉反差的尺度标定和参考应用领域。SUR-CAL为各种硅晶片的表面性状的检测和标定提供了便利的工具。产品的
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke SURF-CAL
- 产地：美国
DukePD3000SURF-CAL尺度标准微粒 NIST可溯源尺度标准，用于需要高度视觉反差的尺度标定和参考应用领域。SUR-CAL为各种硅晶片的表面性状的检测和标定提供了便利的工具。产品的
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：
- 产地：美国
DukePD2000SURF-CAL尺度标准微粒 NIST可溯源尺度标准，用于需要高度视觉反差的尺度标定和参考应用领域。SUR-CAL为各种硅晶片的表面性状的检测和标定提供了便利的工具。产品的
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke,SURF-CAL 尺度标准微粒
- 产地：美国
DukePD1600SURF-CAL尺度标准微粒 NIST可溯源尺度标准，用于需要高度视觉反差的尺度标定和参考应用领域。SUR-CAL为各种硅晶片的表面性状的检测和标定提供了便利的工具。产品的
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke SURF-CAL
- 产地：美国
DukePD1100SURF-CAL尺度标准微粒 NIST可溯源尺度标准，用于需要高度视觉反差的尺度标定和参考应用领域。SUR-CAL为各种硅晶片的表面性状的检测和标定提供了便利的工具。产品的
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke SURF-CAL
- 产地：美国
DukePD-125SURF-CAL尺度标准微粒 NIST可溯源尺度标准，用于需要高度视觉反差的尺度标定和参考应用领域。SUR-CAL为各种硅晶片的表面性状的检测和标定提供了便利的工具。产品的
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke SURF-CAL 尺度标准微粒
- 产地：美国
DukePD100SURF-CAL尺度标准微粒 NIST可溯源尺度标准，用于需要高度视觉反差的尺度标定和参考应用领域。SUR-CAL为各种硅晶片的表面性状的检测和标定提供了便利的工具。产品的粒
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- 品牌： 杜克
- 规格型号：Duke SURF-CAL 尺度标准微粒
- 产地：美国
DukePD100SURF-CAL尺度标准微粒 NIST可溯源尺度标准，用于需要高度视觉反差的尺度标定和参考应用领域。SUR-CAL为各种硅晶片的表面性状的检测和标定提供了便利的工具。产品的粒
