1-1.5μm内QE超60%，滨松红外线扫描相机参上！

红外光在光谱中覆盖了很大的一部分区域。其中，短波红外（SWIR）在科研、产业中运用得Z为普遍。所谓短波红外（SWIR），一般是指0.9－1.7μm波长范围内的光线，也可归入0.7－2.5μm。

SWIR的穿透能力很强，适用于检测物体内部结构或者缺陷。比如检查包装中的液体量、检查密封容器中的内容等。另外，还可以进行硅晶片以及太阳能电池的缺陷检测。此外，不同物质对红外光的吸收不同，利用这一特性，通过物体表面的光谱特性分析，还可进行物品的分拣，如塑料分选、检测农产品中的损坏和杂质等。

为了拓展自己的“视觉”范围，人们通过开发红外敏感的材料，制成各类探测器，以实现多种多样的SWIR成像应用。

InGaAs红外相机是SWIR成像的关键器件，有线阵和面阵两种类型。其中，因为低成本、更适合产线设计等优点，线阵扫描型相机更多被工业在线应用所选择。为保证检测的准确性和GX率，需要相机具备高灵敏度、高行频、高稳定性等性能。

基于多年InGaAs红外探测器及相机的研发经验，滨松**款线扫描式InGaAs相机C15333-10E正式登场了！面向工业检测，它可以为应用带来怎样的新的可能？下面就来了解了解这个小可爱吧~

滨松红外线扫描InGaAs相机C15333-10E

宽波段+高灵敏度：1000nm-1500nm内QE达60%以上

这是一个让它显得尤为突出的特点。受制于材料和工艺，一般同类相机仅仅会在SWIR十分有限的一段光谱区域有较好的QE（量子效率）表现，如1500nm附近，这就使得其他SWIR光谱区域所对应的应用，其检测效果始终难以达到更理想的状态。

滨松红外线扫描InGaAs相机C15333-10E光谱范围覆盖了整个SWIR波段：950nm-1700nm，其中1100nm -1600nm部分的QE超过了60%，这一突破，使更高检查精度、检测效率的SWIR成像应用成为可能。

高质量图像以及的矫正功能

在高QE的基础上，通过独特的电路设计，滨松红外线扫描InGaAs相机实现了低噪声和高性能的wan美融合。内置的像素校正功能，可校正热像素（坏点）以及传感器的非均匀性响应（芯片的波动性），图像质量再次提升，检出效率也因此可得到提高。

高行频输出

Z高40kHz的行频，让该相机在高速在线检查应用上毫无压力。

大视场高分辨率

与滨松的InGaAs面阵相机C12741-03（640×512像素）相比，该相机的1024像素线性阵列可捕获更大的视野，使产线上检测通量得以提升。

紧凑小巧+GigEVision：面向工业领域，易于集成和使用

新相机采用了在工业领域广泛使用的千兆以太网接口，并且支持GigE Vision，具备高兼容性。而小型化设计（4.9×4.9×10cm），也让它能更方便地集成到产线的检测系统中。

滨松一直致力于InGaAs红外相机的开发，无论在科研还是产业的应用中，除了高性能以外，高稳定性也获得业内的一致认可。目前也有产品在某半导体厂工作十年零故障的记录。新推出的红外线扫描InGaAs相机C15333-10E也继承了一系列的“家族优点”，希望在产业应用中为用户带去的工作表现。

下面我们再来瞧瞧这款相机的成像案例吧！

# 检测咖啡豆中混入的石头

# 密封容器的液位检查

# 检测大米中混合的杂质（石头和塑料）

# 检查苹果是否损坏

# 包装检查

# 半导体晶圆检查