详细介绍
产品简介
| RICAM 像增强CMOS探测器 |
| 针对科学领域和工业领域应用设计： • 弱光信号成像 |
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| 应用领域： • 激光诱导荧光（LIF） • 荧光能量共振转移（FRET） • 单分子成像 • 燃烧 • X射线成像 • 粒子图像测速技术（PIV） • 荧光寿命成像（FLIM） • 粘度成像 • 太阳能光伏和LED特性 • 等离子体物理 • 时间分辨成像和光谱 • 时间选通发光 • 氧成像 • 生物化学和化学发光成像 • 时间门控拉曼 |
TRICAM
| LIFA-TD/LIFA 荧光寿命系统 |
| LIFA是一款专门的荧光寿命成像（FLIM）测试系统，包含TRICAM像增强CMOS探测器、调制光源、调制控制单元、计算机及软件包。具有频域和时域两种系统配置。 | |
| 特点： • 具有单光子灵敏度 应用： |
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 LIFA-TD | |
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LIFA
| 高速成像 |
| HS540 高速探测器 针对于科技研发、机器视像和其他工业应用提供了简单且高效的高速成像。 特点: |
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| 应用领域： • 激光诱导荧光（LIF） • 荧光能量共振转移（FRET） • 单分子成像 • 燃烧 • X射线成像 |
| HICATT 高速探测器像增强组件 专为高速探测器设计 HiCATT 增强了高速探测器的灵敏度，使在低光度的成像应用可以达到200000fps的帧速。
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| 两大功能： 1）将弱光信号放大至10000倍，提高高速探测器的灵敏度。 2）门控功能，3ns或40ns
应用领域： |
- 产品分类
- 品牌分类
- 光谱仪/拉曼光谱仪
- 科学级CCD 探测器
- 光学光电与太阳能光伏
- 太阳能相关
- IC封装与测试
- 晶圆制造
- 激光器/功率计
- 等离子刻蚀设备(PECVD)/反应式离子刻蚀(RIE)/Remover
- 镀膜设备
- 光刻胶耗材
- （美国）美国PV measurements
- （美国）美国CrystaLaser
- （美国）美国科洛玛
- （美国）普林斯顿
- （美国）美国Semrock
- （美国）美国Photometrics
- （美国）美国BNC
- （美国）SONIX
- （美国）美国RTI
- （德国）德国YXLON
- （韩国）韩国NOST
- （美国）美国Nisene
- （美国）维易科
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- （美国）美国Ocean Insight
- （美国）丹顿真空
- （美国）相干
- （美国）美国Micro Control Comp
- （法国）法国普发真空
- （美国）美国Mechanical Devices
- （美国）赛默飞世尔
- （美国）美国WEB Technology
- （日本）日本Nippon Kayaku
- （美国）inTEST
- （美国）美国HILEVEL
- （美国）美国Akrometrix
- （德国）德国Microtronic
- （德国）德国布鲁克
- （以色列）以色列Camtek
- （美国）美国Frontier Semiconductor
- （日本）奥林巴斯
- （美国）美国Jelight
- （英国）英国AML
- （美国）美国DJ MicroLaminates
- （美国）美国OAI
- （美国）美国IMP
- （美国）美国Chemcut
- （荷兰）荷兰Trymax
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- （美国）美国Filmetrics
- （美国）美国Heller INDUSTRIES
- （美国）美国Qimaging
- （美国）美国Mechanical Devices
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- （美国）美国安维谱
- （美国）美国ONDAX
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- （德国）德国LTB Lasertechnik Berlin
- （美国）美国MicroChem
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- （英国）英国LaserQuantum
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仪企号
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