Microvision 大屏幕显示测量系统 SS445

大屏幕显示测量系统 SS445

型号：SS445

品牌：Microvision

描述：SS445系统是专门为大屏幕投影显示测量而设计一款产品，适用于所有投影技术，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影仪、仿真器等。SS445采用计算机控制的Pan & Tilt定位系统，从而移动到所需的测试点，配置的140万像素CCD相机，具有自动对焦功能，可以测量MTF、亮度、均匀度、伽马等，而配置的分光光谱辐射计可以用于亮度和色度的测量。测量时，一般放置在三脚架上或投影屏幕前的桌子上，从观察者的角度进行测量，从而更好地表征用户体验。

产品亮点： 

l适合超大屏幕测量

l基于观测者角度测量，更好地表征用户体验

l多功能集合体，设计紧凑

l包含集成信号源

l具备MV remote模式，通过WiFi连接和测量移动设备

l自动化测试

l程序自动控温，精确测量

l包含MV系统软件，操作界面友好

l提供完整测试方案

l用户可自定义客制化测试

lNIST可溯源校准 

应用范围： 

l投影显示 - DLP、LCOS、家用投影、影院投影、后屏投影仪、仿真器等

l平板显示（FPD）- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma

lCRT显示 - 单色，彩色，高分辨率医学显示器

升级选项： 

l jing准位移台（搭配位移台，可精确位移从而实现自动测试） 

l提升测量范围（适用ND滤光片，提高感光器件的测试范围）

技术参数： 

CCD相机

图像传感器：1392x1040 像素

数字视频：12-位 

元件尺寸：6.45 μm/像素

同步性：同步捕获

滤镜：适光性 50%, 20%, 10% & 1% ND

标准镜头：25mm C mount, f1.6 - f16

视场：20mm@1m,可调节

工作距离范围：0.5~3.5 m

亮度精度：± 4% @ 2856K Ill.A

亮度范围：0.05 ~ 106 cd/m2 （含ND滤镜）

测量时间：对于多数测量<1 sec

Spectrometer + Goniometer 光谱辐射计+测角仪

测角仪倾斜角：0~85°

测角仪方位角：0~360°

波长范围：380 ~ 780nm (1000nm可选)

亮度范围：0.01 ~ 500K cd/m2

亮度精度：±3% @ 2856K Ill.A

亮度重复率：超过30分钟RSD < 0.5%,0.01 cd/m2灵敏度@ 3% RSD

色彩准确度：± 0.002 @ 2856K Ill.A

色彩重复率：± 0.0005 @ 2856K Ill.A

温度管理：电脑自动控制

光学器件：12mm 准直 

视场角：1.5°

数字分辨率：16 bit A/D

积分时间：16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)

光学分辨率：3.8nm半高宽 @ 100μm狭缝

校准：NIST可追溯 

操作温度：5~ 30℃

Pan & Tilt 位移台

分辨率：0.0032°

载荷量：9 lbs

测试案例

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