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PHI CHINA表面分析技术网络讲堂之飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)专题

发布:高德英特(北京)科技有限公司
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       PHI CHINA在2020年3月19日至26日开办的“PHI CHINA表面分析技术网络讲堂之飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)专题”讲座圆满落下帷幕。

       本期TOF-SIMS专题网络讲堂进行了理论知识讲解、并结合实际案例分享了实验技术内容。


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       从3月19日起,分别由PHI CHINA资深应用专家鲁德凤女士和主任工程师辛国强先生为大家系统、深入地讲解了TOF-SIMS的基本原理、硬件及仪器功能的相关理论知识,同时邀请了ULVAC-PHI原厂应用科学家张薰匀博士为大家讲解了TOF-SIMS在样品制备、测试和分析的实验技术内容。参加课程的老师和同学们在直播平台和微信交流群内积极留言和反馈,讲课老师在每一节课程的最后进行了现场答疑。


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       PHI CHINA始终秉持为广大客户提供最优质服务的初心!在这特殊的抗疫时期,PHI CHINA通过创新的学习方式,为大家带来多场知识和技术分享交流的盛宴,从2月11日开课到3月26日结课,共举办了XPS、AES和TOF-SIMS三个专题讲座,总计18节课程。至此,PHI CHINA表面分析技术网络讲堂系列课程就告一段落了!

       在此,感谢广大客户以及来自百余所高校和科研院所的千余名师生积极的支持以及给予我们的鼓励。春已暖,花已开,PHI CHINA将会继续努力,为大家带来更加精彩的技术交流活动,请持续关注我们!


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