会议通知|表面分析应用ZT：质量控制与失效分析的利器-PHI 5000 VersaProbe XPS/AES

    随着材料、能源、微电子、芯片半导体、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，表面科学目前已经成为国际上最为活跃的学科之一，对于表面分析技术的需求也日益增多。X射线光电子能谱(XPS)是一种有效的表面分析技术，已经广泛应用于基础科研、先进材料研制和高精尖技术等领域，极大地促进了材料学的研究与发展。PHI X射线光电子能谱仪采用扫描聚焦型X射线，最小X射线束斑可以小于10um，同时还可以集成俄歇电子能谱(AES)，进一步将空间分辨能力提升到100nm。通过XPS和AES的结合，PHI XPS在材料表面化学成分分析、表面元素定性和半定量分析、元素深度分布分析及微区分析等方面都具有优越的表现。

    近日，深圳市八六三新材料技术有限责任公司购入了PHI 配备AES功能的X射线光电子能谱仪，并邀请PHI开展“质量控制与失效分析利器-PHI 5000 VersaProbe XPS/AES表面分析仪应用详解”网络会议，着重给大家介绍PHI XPS及AES在高科技产业中的质量控制和失效分析方面的应用。本次网络讲座将通过腾讯会议开展，同时在哔哩哔哩网站进行直播，在此欢迎大家积极参与，多多交流互动！

会议参与方式

1、时间：

    9月4日（星期五）14：30-16：00

2、参与方式：

腾讯会议 

• 会议ID：186 341 371

• 点击链接：

  https://meeting.tencent.com/s/7Pwp1jX8JdUc

  
  

B站直播间

• 扫描二维码关注直播间

  
  

  
  

• 点击链接：

• https://live.bilibili.com/21820621

深圳市八六三新材料技术有限责任公司简介　

深圳市八六三新材料技术有限责任公司是2001年由国家科技部批准成立的国家.级材料研发和分析检测机构，拥有XPS、SEM、XRD、XRF、EDX、SIMS、GC-MS、ICP、HPLC等数百台精密检测设备，设备原值4000多万元。具有ZG合格评定国家认可委员会CNAS认可、计量认证CMA和国军标认证资质及武器装备科研生产许可证认证。设有博士后创新基地、广东省博士工作站、深圳市技师工作站，培养了一批经验丰富的高端人才；依托深圳市新材料行业协会及发起延伸成立的深圳市电池、真空技术、石墨烯、3D打印、建材、印刷电路板、光电材料等系列协会，与富士康、华为、中兴、比亚迪等超大规模企业建立业务合作。

PHI公司简介

PHI公司(Physical Electronics)自1969年成立，曾一度成为在美国PE(Perkin Elmer)公司的专业表面分析仪器部门，于2003年被日本真空ULVAC-PHI收购。ULVAC-PHI作为最专业的表面分析仪器制造商，拥有50余年的表面分析设备研发和生产历史，专注于研发生产表面分析仪器，其产品包括光电子能谱仪(XPS)，俄歇电子能谱仪(AES)，飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)和动态二次离子质谱仪(D-SIMS)。PHI CHINA致力于为用户提供先进技术和优质服务，与大家携手推动表面分析技术的应用和发展。

更多精彩、更多福利

扫码加入表面分析群