表面粗糙度测量仪 – SRA Head

SRA使用共聚焦显微技术，创建了表面的空间表征。通过堆叠2D图像层，每个图像具有非常小的焦深，同时以极小的增量降低光度，zui终得到低至10纳米的高分辨率。扫描样品的某个区域，通常共聚焦显微镜使用旋转针孔盘片在每个高度水平处创建图像。SRA内部盘片使用微透镜替代传统的孔式设计，不止增加了光输出，并且还可以分析低反射率甚至透明的表面。

表面粗糙度测试仪 – SRT

        SRT配备了先进的共聚焦显微镜，因而我们的表面粗糙度测试仪-SRT可以根据相关的标准快速、精确地测量与轮廓和表面相关的粗糙度参数。质量控制仪器是检查表面是否在打磨或抛光后或表面处理（例如涂层）之前显示出指定粗糙度的理想选择。SRT有标准版本，也有高分辨率的版本，适用于分析从光滑到略显粗糙的表面。