- 实景图片
- 购买单位
- 所在地区
- 购买时间
- 购买数量
深圳善时金属电镀镀层分析仪iEDX-150T 核心参数
元素检出限: | 铝(Al)到铀(U) |
详细介绍
应用领域
iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域
技术指标
多镀层分析,1~5层
测试精度:0.001 μm
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间:10~30秒
SDD探测器,能量分辨率为125±5eV
探测器Be窗0.5mil(12.7μm)
微焦X射线管50KV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶)
6个准直器及多个滤光片自动切换
XYZ三维移动平台,最大荷载为5公斤
高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
仪器尺寸:618×525×490mm
样品台尺寸:250×220mm
样品台移动范围:前后左右各80mm、高度90mm
图谱界面
软件支持无标样分析
超大分析平台和样品腔
集成了镀层界面和合金成分分析界面
采用多种光谱拟合分析处理技术
镀层测厚分析精度可达到0.001μm
分析报告结果
直接打印分析报告
报告可转换为PDF,EXCEL格式
样品分析图谱:
测试结果界面:
产品优势
ISP iEDX-150T镀层测厚仪;
采用非真空样品腔;
专业用于PCB电镀镀层分析、电路板镀层膜厚分析测试及镀层测厚;
采用多种光谱拟合分析处理技术;
可同时分析镀层中的合金成份比列。
采用非真空样品腔;
专业用于PCB电镀镀层分析、电路板镀层膜厚分析测试及镀层测厚;
采用多种光谱拟合分析处理技术;
可同时分析镀层中的合金成份比列。
购买客户
天津瑛岛金属有限公司 | 北辰区 | 2014-05-27 | 1 | |
东方科信网络有限公司 | 舟山 | 2014-07-03 | 1 |
相关产品
技术文档
解决方案