NanoSystem NV-F2700 非接触式3D光学表面轮廓仪为多样研究所有的表面提供***化解决方案。所有的功能实现全自动快速运转。
NV-2700可以最快测量所有表面的测量仪,利用持有的***白光干涉仪WSI和相应算法开发的产品。X,Y,Z轴全部设计为全自动,通过可调节F.O.V镜头,自动构成多样的倍率。此产品专为研究所,大学和工艺管理而制作的产品。此设备可以通过拼接(Stitching)功能可以进行大面积(500?)测量。
得到***的WSI/PSI技术,只需要表面有1%的反射率即可测量,表面现象中的高度,宽度,幅度,粗糙度(Ra, Rq, Rz, Rt, etc)等各种项目均可测量。
此外,WSI的高度分辨率为0.1nm,2秒钟时间即可扫描所有的表面,在不破坏样品的情况下,可测定0.1nm到1000um的样品,均可观察2D/3D的现象。不仅如此,更是保障了0.1%(1σ)世界水准的重复性,本公司保有的技术可应用于 PCB, display, engineering part, chemical material, optical parts, bio, R&D等方面。
技术比较
一般光学显微镜:***使用但是具有分辨率和重复性不高的缺点。
电子显微镜(SEM):测量准备过程和测量时间超过20分钟 (star-up, vacuuming, and observation),此外,检测台过小,不得不对测量物体进行破坏测量的情况较多。
传统接触式粗糙度测量仪:由于是接触式测量仪,会在样品表面留下划痕,精度在2微米左右。
原子显微镜(AFM):消耗大量时间,准备过程非常复杂,测量技术最多需要12小时。
NanoSystem的WSI:无需任何准备,即可在2秒内完成精度在(0.1nm),并可测量0.1nm到1000um的样品,大量公司在产品的QC,QA或是R&D部门大量使用此产品。
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