详细介绍
单离子注入系统(纳米级定位单离子注入系统SII)
产品简介
公司中德技术团队家研发了一款基于新型扫描探针精 准定位的离子注入 系统,能有效控制注入半导体器件的杂质种类、数量和位置,实现多种离 子(如 H、N、O、Si、P、B、As、Te、Ar 等)的精 准定位定量掺杂注入。该 系统可以满足量子比特阵列,金刚石中的氮空位中心(NV 色心)以及单原子 器件的工艺精度要求,研制的设备可用于探索纳米结构器件、量子比特系 统和量子信息处理器电路的开发。 公司的一项革命性发明专 利,解决了注入离子由于晶格散射带来的位置 不确定性问题,颠覆性地将注入离子在晶体中位置的误差缩减到 10nm 以 下,实现纳米级精确定位注入掺杂离子。
技术特点:
• 精 准确定位定量离子注入
• 针尖悬臂上的小孔小于50nm
• 锥形电场稀释和准直离子束
• 横向电场形成离子闸门
应用领域:
• 功能材料定位掺杂
• 纳米尺度功能器件制备
• 固态量子信息技术
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产品优势
单离子注入系统(纳米级定位单离子注入系统SII):精准确定位定量离子注入
• 针尖悬臂上的小孔小于50nm
• 锥形电场稀释和准直离子束
• 横向电场形成离子闸门
• 针尖悬臂上的小孔小于50nm
• 锥形电场稀释和准直离子束
• 横向电场形成离子闸门
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