飞纳 增材制造评估 ParticleX AM 核心参数
| 电子枪: | 六硼化铈 | 分辨率: | 10nm |
详细介绍
Phenom ParticleX AM
飞纳 Phenom ParticleX 增材制造金属粉末全面评估系统 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。
在增材制造中，粉末的尺寸、形状和化学性能对于粉末床的行成、熔池和微观均质性可能会产生重大影响。激光粒度仪虽然可以检验粉末粒度和形状，但无法自动检测和分析杂质颗粒。
Phenom ParticleX 专为工业环境使用而开发，可进行所有这些工作，并可生成标准报告，显示尺寸和形状分布以及识别污染颗粒。
同时具备纳米级分辨率成像功能，分辨率为 10 nm，可以对断口表面、单个颗粒和表 面缺陷（如气孔、夹杂物和微裂纹）进行高分辨率成像。
规格参数
| 光学放大 | 3 - 16 X |
| 电子光学放大 | 80 - 200,000 X |
| 分辨率 | 优于 10 nm |
| 数字放大 | Max. 12 X |
| 光学导航相机 | 彩色 |
| 加速电压 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调 |
| 真空模式 | 高分辨率模式 降低核电效应模式 高真空模式 |
| 探测器 | 背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配) |
| 样品尺寸 | 最大 100 mm X 100 mm 可同时装载 36 个 0.5 英寸样品台 |
| 样品高度 | zui高 65 mm，样品高度全自动调节 |
产品优势
飞纳 Phenom ParticleX 增材制造金属粉末全面评估系统 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。
解决方案
