飞纳 枪击残留物分析 GSR 核心参数
| 电子枪: | 六硼化铈 |
详细介绍
Phenom GSR 枪击残留物分析
在枪支犯罪事件中，枪击残留物 GSR 的分析将发挥重要的作用。GSR 分析技术首先基于扫描电子显微镜 （SEM） 的背散射成像，用来扫描样品和发现可疑的 “GSR” 颗粒。一旦发现可疑的颗粒，使用能谱（EDS）识别在该粒子中的元素。最常见的搜索元素为 Pb，Sb 和 Ba。无铅dihuo的检测，例如 Ti 和 Zn 也可最为搜索条件进行搜索。
Phenom GSR 飞纳台式扫描电镜自动枪击残留物分析是全球shou创在台式扫描电镜运行自动枪击残留物分析软件。其设计基于飞纳台式扫描电镜大样品室zhuo越版 Phenom XL。软件和硬件完全一体化，以提高用户操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三个项目：自动枪击残留物分析和分类软件包，BSED 和 EDS 探头内部集成，校准试样。
Phenom GSR 飞纳台式扫描电镜自动枪击残留物分析配备 CeB6 灯丝，使其稳定运行，灯丝寿命不低于 1500 个小时，从可用性，适用性和运行时间的角度来看都非常理想。小于 1 分钟的加载时间，和快速的全自动马达样品台，使得飞纳 GSR 成为高度自动化应用的理想工具，可以用来进行自动枪击残留物分析。
Phenom GSR 规格参数
| 光学放大 | 3 - 16 X |
| 电子光学放大 | 80 - 200,000 X |
| 分辨率 | 优于 10 nm |
| 数字放大 | Max. 12 X |
| 光学导航相机 | 彩色 |
| 加速电压 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调 |
| 真空模式 | 高分辨率模式 降低核电效应模式 高真空模式 |
| 探测器 | 背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配) |
| 样品尺寸 | zui大 100 mm X 100 mm 可同时装载 36 个 0.5 英寸样品台 |
| 样品高度 | zui高 65 mm，样品高度全自动调节 |
产品优势
Phenom GSR 飞纳台式扫描电镜自动枪击残留物分析是全球SC在台式扫描电镜运行自动枪击残留物分析软件。
解决方案
