荧光电镜一体机 CLEM 核心参数
| 电子枪: | 六硼化铈 |
详细介绍
简介
德飞荧光扫描电镜一体机 Delphi CLEM 是荷兰扫描电镜制造商 Phenom-World 和荷兰荧光显微镜制造商 Delmic 于 2014 年联合推出的全球shou款将荧光显微镜和台式电镜高度整合在一起的设备。
德飞采用光电关联显微技术（CLEM），荧光定位样品中感兴趣区域，电镜接力高倍观察，通过在荧光图像中叠加电镜图像，在一张图像里同时获得样品功能物质分布信息和高分辨结构信息。
电镜不能感知荧光信号，光电关联显微技术的难点是在电镜里找回荧光所确定的感兴趣区域，德飞使用图像无缝切换技术，两种光路对同一位置点直接成像，彻底解决了这个难题。
德飞（Delphi）的ZG电子束自动校准技术，无需人工干预就能得到精度高达 200 nm 的荧光和电子叠加照片，既节约了时间，又确保了叠加图像的可信度。
德飞面向广大生物工作者，提供可信，高效，简便生物图像解决方案，是连接荧光显微镜和扫描电镜的zhong极桥梁
规格参数
Delphi iCLEM | |
| 电镜分辨率 | 优于 14 nm |
|---|---|
| 电子放大 | zui高 130,000 X |
| 探测器 | 四分割背散射电子探测器 |
| 灯丝材料 | 长寿命 1500 小时，高亮度 CeB6 灯丝 |
| 加速电压 | 5 kV - 10 kV 连续可调 |
| 荧光分辨率 | 290 nm |
| 荧光物镜 | 平场复消色差物镜 40 X（NA0.95） |
| 荧光滤块 | DAPI, FITC, TRITC, Cy5 或其它选配 |
| 荧光相机 | sCMOS 相机，像素数 2048 X 2048 |
荧光光源 | 四通道固态 LED 光源，激发在 395/ 485/ 575/ 650 nm |
产品优势
德飞采用光电关联显微技术（CLEM），荧光定位样品中感兴趣区域，电镜接力高倍观察，通过在荧光图像中叠加电镜图像，在一张图像里同时获得样品功能物质分布信息和高分辨结构信息。
解决方案
