Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪 核心参数
仪器分类: | 非接触式 |
详细介绍
Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪
Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪融合了高级表征、可定制选项和易用性,可以提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。
它的操作和分析软件系统提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可以访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医学设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪满足计量要求,具有很好的Z轴分辨率和准确性,并在更小的占地面积内提供了布鲁克白光干涉仪(WLl)落地式型号所具备的业界认可的优点。它对反射率从0.05%到100 %的各种表面都非常易于测量。
Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪拥有三款型号,分别是GT100、GT200、GT500,它们的技术参数如下:
Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪
型号 | GT100 | GT200 | GT500 |
图片 | |||
样品台区别 | 手动样品台 | 自动样品台 | 高级自动化样品台 |
技术参数 | 扫描量程:≤10mm 垂直分辨率:<0.01nm 水平分辨率:0.38μm min(Sparrow criterion),0.13μm(with AcuityXR) 台阶高度准确性:<0.75% 台阶高度重复性:<0.1% 1 sigma repeatability 扫描速度:37μm/sec(with standard camera) 样品倾角:≤40°(shiny surfaces),≤87°(rough surfaces) 样品高度:≤100mm(4 in.) |
产品优势
Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪WM融合了高级表征、可定制选项和易用性,可以提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。它的操作和分析软件系统提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可以访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半导体,眼科,YL设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
技术文档
- 产品分类
- 品牌分类
- 扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM)
- 透射电子显微镜(透射电镜、TEM)
- 光学表面分析仪
- 轮廓仪/粗糙度仪
- 四探针测试仪
- 激光干涉仪
- 纳米压痕仪、划痕仪
- 纳米压印仪
- 激光剥蚀进样系统
- 离子溅射仪
- 其它通用分析
- 匀胶机
- 摩擦磨损试验机
- 3D打印机
- 网络分析仪
- 耗材配件
- (德国)布鲁克
- (挪威)多普勒
- (苏州)HL
- (美国)(美国) 科特莱思科
- (美国)美国四维
- (丹麦)丹麦NIL TECHNOLOGY
- (美国)珀金埃尔默
- (瑞典)瑞典Obducat
- (美国)美国Stratasys
- (美国)美国nTact
- (德国)罗德与施瓦茨
- (立陶宛)立陶宛OptoGama
- (新竹)鼎佳能源
-
仪企号冠乾科技(上海)有限公司
-
友情链接