仪器分类: | AFM |
产品介绍:
Innova-IRIS 结合了业界领先性能的AFM和布鲁克专 利的针尖增强拉曼光谱(TERS)探头,能提供一整套完备、有保障的TERS解决方案。它与 Renishaw inVia 显微拉曼系统完 美融合,组成一个高效且完全集成的测量平台,同时保留了每个独立组件的功能, 可用于微、纳米尺度各类性质成像,可将 AFM 的应用扩展到纳米光谱及纳米化学分析领域。
联合
原子力显微镜和拉曼显微镜
提供高性能的TERS和完整的SPM功能。
专属
TERS 探头
零光谱干扰,实现高空间分辨率成像和高性能TERS功能。
优化
硬件和软件
降低传统TERS操作的复杂性。
特征
专为TERS设计
文献研究表明光路离轴反射结构是充分考虑探针尖 端阴影和极化效应条件下,实现最 大光捕获的最 佳解决方案。Innova-IRIS 采用新型光学架构,激发光从探头的正面进入探针-样品交汇点,提供了理想的无障碍物光学路径。
布鲁克创新的样品扫描 AFM 结合Renishaw InVia 显微拉曼系统,通过联合研发设计,在扫描过程中集成了独特的光学"热点"跟踪方式,在拉曼较长信号积分时间内,可以保持探针的完整性和精确定位,能满足TERS成像的严苛要求。
关联的互补数据
使用 Innova-IRIS 和 inVia 拉曼系统获取的石墨烯AFM 形貌(左)和拉曼化学成像(右图)。
Innova-IRIS 与 Renishaw InVia 的集成完全保留了 AFM 和拉曼显微镜的全部功能。单独使用时,可以采用相对各自独立的实时控制和数据分析软件。通过系统集成,可实现互补的纳米级形貌、热、电学和力学信息测量的整合。
应用
最 优的TERS应用
不透明样品TERS系统的光学配置示意图。
Innova-IRIS优化的TERS光路方案。
透明样品TERS系统的光学配置示意图。
TERS 操作中的同步光学CCD (AFM和拉曼)。
CVD生长石墨烯的针尖增强拉曼光谱(TERS),显示了在 10 nm尺度G 和 2D band 强度的变化。图片由Renishaw公司提供。
Au基底上孔雀石绿的TERS光谱, Innova - IRIS与Renishaw inVia联合平台获得。
使用 Innova-IRIS TERS探针获取的Nile Blue 薄膜的TERS光谱。
使用Catalyst-IRIS获取的Cresyl Blue TERS光谱,TERS增强因子约 99。 激发波长 532nm,能量 64 μW。
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仪企号布鲁克纳米表面仪器部
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