半导体激光器BAR条/叠阵老化测试机

产品特点
•布局合理，系统集成度高，灵活性高。
•QCW工作模式可选。
•配备低噪音FFU系统，维持老化环境1000级洁净度，保证器件清洁。
•高度自动化，老化过程无人值守，超温、漏水等异常情况自动处理，优先保证器件和设备安全。
•老化过程中实时监测电压、电流、温度等各项参数，并将参数自动保存至数据库。

产品应用
•用于高功率半导体激光器BAR条/叠阵老化测试，筛选早期失效产品。
•用于高功率半导体激光器BAR条或叠阵正常寿命或者加速寿命测试，评估产品寿命。
•该系列支持定制。