台阶高度:几纳米至1000μm
低触力:0.5至15mg
视频:500万像素率彩色摄像头
梯形失真校正:消除侧视光学系统引起的失真
圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差
紧凑尺寸:小占地面积的台式探针式轮廓仪
台阶高度:2D台阶高度
纹理:2D粗糙度和波纹度
形式:2D翘曲和形状
应力:2D薄膜应力
半导体和复合半导体
SIMS:二次离子质谱
LED:发光二极管
太阳能
MEMS:微电子机械系统
汽车
医疗设备
KLA 台阶仪 D-300 核心参数
仪器分类: | 光电式 | 扫描长度: | 30 mm(更大可拼接) |
Z轴分辨率: | 0.38 Å | 相机分辨率: | 5 MP 彩色 |
探针接触力: | 0.5– 15 mg | 载物台尺寸: | 140 mm |
详细介绍
Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。
探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行测量。通过测量粗糙度和应力,可以对工艺进行量化,确定添加或去除的材料量,以及结构的任何变化。
二、 功能
设备特点
主要应用
应用领域
产品优势
Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。
探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行测量。通过测量粗糙度和应力,可以对工艺进行量化,确定添加或去除的材料量,以及结构的任何变化。
设备特点
台阶高度:几纳米至1000μm
低触力:0.5至15mg
视频:500万像素率彩色摄像头
梯形失真校正:消除侧视光学系统引起的失真
圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差
紧凑尺寸:小占地面积的台式探针式轮廓仪
主要应用
台阶高度:2D台阶高度
纹理:2D粗糙度和波纹度
形式:2D翘曲和形状
应力:2D薄膜应力
应用领域
半导体和复合半导体
SIMS:二次离子质谱
LED:发光二极管
太阳能
MEMS:微电子机械系统
汽车
医疗设备
探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行测量。通过测量粗糙度和应力,可以对工艺进行量化,确定添加或去除的材料量,以及结构的任何变化。
设备特点
台阶高度:几纳米至1000μm
低触力:0.5至15mg
视频:500万像素率彩色摄像头
梯形失真校正:消除侧视光学系统引起的失真
圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差
紧凑尺寸:小占地面积的台式探针式轮廓仪
主要应用
台阶高度:2D台阶高度
纹理:2D粗糙度和波纹度
形式:2D翘曲和形状
应力:2D薄膜应力
应用领域
半导体和复合半导体
SIMS:二次离子质谱
LED:发光二极管
太阳能
MEMS:微电子机械系统
汽车
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