提供 1.5 nm 的最 佳空间分辨率
在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试
在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的唯 一 TKD 解决方案
全自动内置 ARGUS 成像系统
实现最 佳空间分辨率
SEM 中获取取向分布图和物相分布图
用于快速测试,同时不影响数据质量/完整性
以令人难以置信的速度,通过全自动信号优化,以出色的对比度和分辨率拍摄 STEM 图像
可使用低电流分析束流敏感材料。
德国布鲁克 电子显微镜分析仪 QUANTAX EBSD 核心参数
电子枪: | 钨灯丝 |
详细介绍
产品亮点:
1.5纳米
有效的空间分辨率
独特的同轴 TKD 提供最 佳的样品-探测器几何构型,从而实现无与伦比的性能
2nA
测试所需的 最 大电流
同轴 TKD 可实现低探头电流测试,且不影响测试速度和数据质量
125,000Pps
超快获取 FSE、BSE 和 STEM 图像
无与伦比的ARGUS成像系统可在几秒钟内实现高对比度和低噪声成像
具有无与伦比的空间分辨率的纳米材料取向分布图
QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器,是分析 SEM 中纳米材料的最 佳解决方案。原因如下:
为什么我需要同轴 TKD?
Ge-Sb-Te (GST) 薄膜样品的暗场像图片,我们感谢斯坦福大学Aaron Lindenberg组提供的样品和图像结果
您的分析挑战是什么?
矿物学样品的高级物相识别
Microstructure characterisation of a microprocessor wire bonding with EBSD
镍基超合金微观结构的 EBSD 表征
产品优势
同轴 TKD 具有无与伦比的性能
最佳空间分辨率
低探头电流要求
最佳空间分辨率
低探头电流要求