详细介绍
QuaNix4200P分体式涂层测厚仪 QuaNix4200P涂层测厚仪（分体式）更方便用户在台阶、狭小、拐角及凹槽等复杂区域测量，QuaNix4200P涂层测厚仪（分体式）零位稳定，无需校准，温度补偿，红宝石探头，独特的直流采样技术。 QuaNix4200P涂层测厚仪（分体式）适合测量钢、铁等铁磁性（Fe）金属基体上的非磁性涂镀层的厚度，如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉等 QuaNix4200P分体式涂层测厚仪技术参数： QuaNix4200P | 测量范围 | QNIX4200P（分体型）：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um | QNIX4200P5（分体型）：Fe:0-5000um；NFe:0-5000um | 显示精度 | 0.1um | 精度 | 0-50um:≤±1um | 50-1000um:≤±1.5%读数 | 1000-3000um≤±3%读数 | 最小接触面 | 10×10mm/QNix4500 | 最小曲率半径 | 凸面：3mm；凹面：25mm | 最小基体厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm | 温度补偿范围 | 0-60℃ | 显示 | LCD液晶（带背光） | 探头 | 红宝石固定式 | 电源 | 2×1.5V干电池 | 尺寸 | 100×60×27mm | 重量 | 110g |
|
产品优势
QuaNix4200P分体式涂层测厚仪
QuaNix4200P涂层测厚仪（分体式）更方便用户在台阶、狭小、拐角及凹槽等复杂区域测量，QuaNix4200P涂层测厚仪（分体式）零位稳定，无需校准，温度补偿，红宝石探头，独特的直流采样技术。
深圳市伟峰仪器仪表有限公司
