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整机外罩对外界水蒸气阻隔性能的监控方案

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整机外罩对外界水蒸气阻隔性能的监控方案

摘要:电子元器件对周围水蒸气含量要求严格,因此用于其外壳的整机外罩应具有很高的阻湿性,防止电子元器件出现老化等质量问题。本文利用Labthink兰光自主研发制造的C390H水蒸气透过率测试系统对整机外罩样品进行水蒸气透过率测试,通过详细介绍设备测试方法、测试原理及试验过程,为相关电子器件生产企业严控外壳阻湿性提供有效的监控方案。

关键词:电子元器件、老化、整机外罩、水蒸气透过率、阻湿性、水蒸气透过率测试系统

1、意义

现今,人类对提高电子元器件的使用寿命的研究日益深入,而其外包装的有效阻湿性对其使用寿命的延长至关重要。因在高湿的环境下零部件易受潮,导致在使用过程中塑体与零部件引脚处产生裂缝,进而引起壳体渗漏,芯片逐渐受潮失效。因此,电子元器件生产企业通常在电子元器件外面添加整机外罩装置,以阻隔水蒸气,保护内部元器件,防止出现提前老化的现象。进而,生产企业应严格监控整机外罩包装的阻湿性能。

Labthink兰光,致力于通过包装检测技术提升和检测仪器研发帮助客户应对包装难题,助力包装相关产业的品质安全。了解关于更多相关信息,您可以登陆济南兰光公司网站查看具体信息或致电0531-85068566咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。

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