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上海长方光学仪器有限公司

ICP光谱仪发射常见问题

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【导读】1、影响等离子体温度的因素载气流量:流量增大,中心部位温度下降;载气的压力:激发温度随载气压力的降低而增加;频率和输入功率:激发温度随功率增大而增高,近...



    1、影响等离子体温度的因素
    载气流量:流量增大,ZX部位温度下降;
    载气的压力:激发温度随载气压力的降低而增加;
    频率和输入功率:激发温度随功率增大而,近似线性关系,在其他条件相同时,增加频率,放电温度降低;
    第三元素的影响:引入低电离电位的释放剂(如T1)的等离子体,电子温度将增加。
    2、电离干扰的消除和YZ
    原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少,因而降低分析信号。
    在标准和分析试样中加入过量的易电离元素,使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上,从而YZ或消除分析元素的电离。
    此外,由于温度愈高,电离度愈大,因此,降低温度也可减少电离干扰。
    3、试剂酸度对ICP-AES法的干扰效应主要表现在哪些方面?
    提升率及其中元素的谱线强度均低于水溶液;
    随着酸度增加,谱线强度显着降低;
    各种无机酸的影响并不相同,按下列顺序递增:HClHNO3HClO4H3PO4H2SO4;谱线强度的变化与提升率的变化成正比例。
    4、ICP-AES法中的光谱干扰主要存在的类型
    谱线干扰;
    谱带系对分析谱线的干扰;
    连续背景对分析谱线的干扰;
    杂散光引起的干扰。
    5、ICP-AES法分析中灵敏度漂移的校正
    在测定过程中,气体压力改变会影响到原子化效率和基态原子的分布;
    另外,毛细管阻塞、废液排泄不畅,会使溶液提升量和雾化效率受到影响;
    以及电压变化等诸多因素都会使灵敏度发生漂移,其校正方法可每测10个样品加测一个与样品组成接近的质控样,并根据所用仪器的新旧程度适当缩短标准化的时间间隔。
    6、ICP分析中如何避免样品间的互相沾污?
    测量时,不要依次测量浓度悬殊很大的样品,可把浓度相近的样品放在一起测定,测定样品之间,应用蒸馏水或溶剂冲洗之。
    7、ICP-AES法中,用来分解样品的酸,必须满足的条件
    尽可能使各种元素迅速、完全分解;所含待测元素的量可忽略不计;
    分解样品时,待测元素不应损失;与待测元素间不形成不溶性物质;
    测定时共存元素的影响要小;不损伤雾化器、炬管等。
    8、在ICP-AES法中,为什么必须特别重视标准溶液的配置?
    不正确的配置方法将导致系统偏差的产生;
    介质和酸度不合适,会产生沉淀和浑浊;
    元素分组不当,会引起元素间谱线干扰;
    试剂和溶剂纯度不够,会引起空白值增加、检测限变差和误差增大。






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2006-01-18 08:53:01
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