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上海长方光学仪器有限公司

介电常数测试仪的使用方法和维修方法

来源:内容来源于网络 浏览量:1433次
【导读】介电常数测试仪使用方法1.   被测样品的准备被测样品要求为园形,直径25.4~27mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1~5mm之间,如太薄或...

介电常数测试仪使用方法
1.   被测样品的准备
被测样品要求为园形,直径25.4~27mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1~5mm之间,如太薄或太厚则测试精度就会下降,样品要尽可能平直。
下面推荐一种能提高测试精确性的方法:准备二片厚0.05mm的园形锡膜,直径和平板电容器极片一致,锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林,它起粘着作用,又能排除接触面之间残余空气,把锡膜再粘在平板电容器两个极片上,粘好后,极片呈镜面状为佳,然后放上被测样品。
2.测试顺序
先要详细了解配用仪器的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响。
a.   把配用的仪器主调谐电容置于Z小电容量,微调电容置于-3pF。
b.   把本夹具测试装置插到仪器测试回路的“电容”两个端子上,即插入到仪器上方接线铜柱的右边两个圆柱内。
 
c.   配上相适应的高Q值电感线圈,选择电感没有特别的方法,只有试或凭经验来选择合适的那个,一般选择使高频仪器显示Q值Zda的电感Z为合适。
注:以上步骤是为了使高频仪器工作起来(仪器是LC谐振工作原理,所以要选择合适的电感才能使仪器谐振)
d.   调节平板电容器测微杆,使二极片相接为止,读取刻度值记为DO。
e.   再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器,到二极片夹住样品止(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取新的刻度值,记为D1,这时样品厚度D2=D1-D0。
注:以上d和e两步是测出被测样片的厚度,方便后面计算介电常数时用。
f.   把园筒电容器置于7mm处(该值不是的,我们一般在测的时候放到7mm处就可以测了,不过有的时候在做到h步0骤时顺时针旋转完刻度了Q值还没有达到一半,这时就要适当的把7mm刻度调整到9mm或更大了)。
g.   改变配合仪器频率,使之谐振,读得Q值。(如果测试材料样片有“要求的测试频率”,那么就先把频率定位到该频率,然后再调节仪器的主调电容,使仪器谐振(即仪器的Q值显示为Zda);如果不知道在频率下测试的话,我们一般把频率放在1MHz下来调试,然后再调节主调电容使仪器工作)。
h.   先顺时针方向,后逆时针方向,调节园筒电容器,读取当仪器指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值,取这二个值之差,记为M1。(先记下园筒电容在7mm时仪器谐振时的ZdaQ值,即d步骤测得的Q值;然后调节园筒电容器,看仪器的Q值显示为原来的一半时,读取园筒电容器上边的刻度为多少,要顺时针和逆时针旋转两次取两个刻度值;如果园筒电容器顺时针转到0刻度时Q值还没有到一半,那么就要返回到第f步骤把园筒电容器置于9mm处或更大,重新操作)。 
i.   再调节园筒电容器,使仪器再次谐振(即把园筒电容器调回到7mm处)。
j.   取出平板电容器中的样品,这时仪器又失谐,调节平
板电容器,使再谐振,读取测微杆上的读值D3,其变化值为
D4=D3-D0。
k.   和h款操作一样,得到新的二个值之差,记为M2。
3. 计算测试结果
被测样品的介电常数:
Σ=D2/D4
被测样品的损耗角正切值:
   tgδ=K(M1-M2)/15.5   
式中:K为园筒电容器线性变化率,一般为0.33。
4. 其他应用使用方法
使用本测试装置和仪器配用,对绝缘材料以及其他高阻性能的薄材,列如:优质纸张、优质木材、粉压片料等,进行相对测量,其测试方法就非常简便、实用,采取被测样品和标准样品相比较方法,就能灵敏地区别二者之间的轻微差别,例如含水量、配用原料变动等等。
测试时先把标准样品放入平板电容器,调节仪器频率,谐振后读得Q值,再换上被测样品,调节园筒电位器,再谐振,看Q值变化,如Q值变化很小,说明标准样品和被测样品高频损耗值一致,反之说明二者性能有区别,如园筒电容器调节不能再谐振,通过调节仪器频率才能谐振,且频率变化较大,说明被测样品和标准样品的配用原材料相差较大。

 

 

介电常数测试仪维修方法
本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备,所以在使用和
保存时要避免振动和碰撞,要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存,不能自行拆装,否则其工作性能就不能保证,如测试夹具受到碰撞,或者作为定期检查,要检测以下几个指标:
1.   平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。
2.   园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。
3.   保证二个测微杆0.01mm分辨率。
4.   用精密电容测量仪(±0.01pF分辨率)测量园筒电容器,电容呈线性率,从0~20mm,每隔1mm测试一点,要求符合工作特性要求。

GDAT-A介电常数测试仪

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2004-08-12 09:23:05
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