超高阻双电四探针测试仪仪器配置

来源：内容来源于网络浏览量：913次

【导读】　　四探针电阻率又名方阻测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗四探针电阻率方阻测试仪单晶、硅片)电阻率，以及扩散层、外延层、 ITO 导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。...

　　四探针电阻率又名方阻测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗四探针电阻率方阻测试仪单晶、硅片)电阻率，以及扩散层、外延层、 ITO 导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。

　　超高阻双电四探针测试仪是宁波江北瑞柯伟业仪器有限公司Zxin研发的产品，目前已被多家企业咨询，预定，购买。超高阻双电四探针测试仪又是一种针对于产品性能测试的仪器，这款仪器不但实用性强，而且价格优惠，瑞柯仪器一直在研发新品，如果你对我们的仪器感兴趣，欢迎联系我们。

超高阻双电四探针测试仪为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率，Zda可以测试到1010Ω方阻值，是目前同行业中能测量到的Zda方阻值，本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

本超高阻双电四探针测试仪仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

仪器网-专业分析仪器服务平台,实验室仪器设备交易网,仪器行业专业网络宣传媒体。

2004-08-12 09:23:07

标签：

收藏(0) 赞(0) 踩(0)

随时了解更多仪器资讯，求购、招标、中标信息实时更新，厂商招商信息随时看。大量、齐全、专业的仪器信息尽在仪器网（yiqi.com）。扫一扫关注仪器网官方微信，随时随地查看仪器用户采购、招标需求！

您可能感兴趣

超低阻双电四探针测试仪概述2004-08-12 09:23:07

超低阻双电四探针测试仪概述本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，最小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同
超低阻双电四探针测试仪的应用范围2004-08-12 09:23:07

超低阻双电四探针测试仪采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温
四探针测试仪简介2004-08-12 09:23:07

四探针测试仪 - 概述：　　数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理
高温四探针测试仪的测量原理2006-01-17 09:43:32

高温四探针测试仪可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率和外延层、扩散层和离子注
高温四探针测试仪的技术特点与适用情况阐述2006-01-17 09:43:55

高温四探针测试仪广泛用于碳系导电材料、金属系导电材料、金属氧化物系导电材料、结构型高分子导电材料、复合导电材
双电四探针测试仪如何测试导电橡胶及薄膜材料2004-08-12 09:23:07

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。标准要求：该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并
银飞供TH2661型手持式四探针测试仪2004-09-15 09:23:08

品牌：同惠产地：常州供应商：深圳市银飞电子科技有限公司简要介绍TH2661型四探针测试仪，可测量片状、块状半
四探针测试仪 国产带电脑接口型号:ST512-SZT-22004-11-03 09:23:13

北京中西远大科技有限公司联系人：杨小姐电话:01051669041/59410792/13311251361
半导体电阻率测试仪的技术指标2004-08-12 09:23:07

半导体电阻率测试仪是实验室检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试
wi59930功能薄膜特性测试仪2004-11-03 09:23:10

产品名称：功能薄膜特性测试仪产品货号：wi59930产地：中国仪器由四探针测试仪和薄膜电导率测量仪两部分组成

版权与免责声明

①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布，观点仅代表作者本人，不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益，请及时告诉,我们立即通知作者，并马上删除。

②凡本网注明"来源：仪器网"的所有作品，版权均属于仪器网，转载时须经本网同意，并请注明仪器网(www.yiqi.com)。

③本网转载并注明来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。

④若本站内容侵犯到您的合法权益，请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱：hezou_yiqi