纳米粒径与电位分析仪工业化模块化设计可扩展ZETA电位

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【导读】Nicomp 380系列纳米粒径与电位分析仪采用动态光散射原理检测分析颗粒的粒度分布，主要用于检测纳米级别的体系和其他胶体体系，其粒径检测范围0.3 nm-10μm。Nicomp ...

Nicomp 380系列纳米粒径与电位分析仪采用动态光散射原理检测分析颗粒的粒度分布，主要用于检测纳米级别的体系和其他胶体体系，其粒径检测范围0.3 nm-10μm。

Nicomp 380系列仪器均采用的工业化模块化设计，可灵活方便地扩展ZETA电位和其他功能，如：ZL的自动稀释系统、自动进样系统、在线进样系统、多角度监测系统和各种激光器/检测器。

NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点

1、同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位

2、Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及Zxin的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品

3、检测范围宽广，亚微米颗粒均可以被检测

4、样品测试量小

5、高辨析率

6、结果重现性好，误差小于1%

7、100 % 样品可回收利用

8、可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器

9、无须校准

10、一次性进样，避免交叉污染样品

11、可选配大功率激光发生器以及军品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒

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2004-08-14 09:23:05

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