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上海长方光学仪器有限公司

快速温度变化循环试验箱-环境应力筛选标准规范列表

来源:内容来源于网络 浏览量:834次
【导读】快速温度变化循环试验箱应力筛选规范列表应力筛选规范:MIL-202C-106、107电子及电器部件试验方法标准MIL-781可靠性试验方法手册HB/Z213机载电子设备环境应力筛选...

快速温度变化循环试验箱

应力筛选规范列表
应力筛选规范:
MIL-202C-106、107
电子及电器部件试验方法标准
MIL-781
可靠性试验方法手册
HB/Z213
机载电子设备环境应力筛选指南
HB6206
机载电子设备环境应力筛选方法
JESD22-A109-A
器密试验方法
TE000-AB-GTP-020
环境应力筛选要求与*电子设备应用
CFR-Title47-ChapterI-68.302
美国联邦通讯委员会环境仿真
GJB/Z34
电子产品定量环境应力筛选指南
HB/Z213
组件级环境应力筛选
温度循环:
EC68-2-14
温度变化
MIL-STD-2164
电子设备环境应力筛选方法=GJB1032-1990
GJB1032-1990
电子设备环境应力筛选方法
DOD-HDBK-344
电子设备环境应力筛选=GJB/Z34-1993
NABMAT-9492
美军*制造筛选
JISC5030
热循环试验
零件预烧试验:
MIL-STD-883,Method1008
预烧
MIL-STD-883,Method1015
(IC类预烧)
MIL-STD-750,Method1038
(二极管类预烧)
MIL-STD-750,Method1039
晶体管类预烧)
MIL-STD-883,Method1010
温度循环
MIL-M-38510
微型电路的一般规格
MIL-S-19500
半导体器件要求和特点
系统预烧:
MIL-781
可靠性设计鉴定与生产接收试验
MIL-810
美国军标环境工程考虑和实验室试验

宏展快速温度变化循环试验箱


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2004-09-05 09:23:11
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