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动态干涉仪Kaleo-Multiwave
- 品牌：法国Phasics
- 型号： Kaleo-Multiwave
- 产地：法国
- 供应商报价： 面议
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北京先锋泰坦科技有限公司
更新时间：2024-03-27 16:48:25 -
企业性质生产商
入驻年限第3年
营业执照已审核
- 同类产品波前位相测量(5件)
联系方式：市场部13810146393
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- 详细介绍
- 有别于基于传统Fizeau 干涉仪的方法，采用位相检测方法直接构建的动态干涉仪既不需要移动待测元件多次曝光，也不需要采用偏振等复杂的光学手段，针对待测元件进行一次测量即可获得其反射面型或透过波差；Kaleo-Multiwave 多色动态干涉仪可用于光学元件面型检测、透过波差测试、大型望远镜系统测试及实时调整等。大动态范围像差测试能力使其可测平面/ 球面波而无需中继镜，无色差检测能力允许使用多个波长甚至白光进行测试。Kaleo-Multiwave 集成了可切换波长的准直光源，可以对大口径镜片进行直接或对比测量。
光路结构
双通路测试
测量能力
反射波前面型测量，透射元件波差测量
光源
标准：1/2 路工作波长，ZG可集成 8 路波长
波长选择
193nm ~ 14 m，如 266、355、405，550、625、780、
940、1050nm，红外 1.55、2、3.39、10.6 m 等
有效口径
5.1”，130mm
光学中心高度
108mm
对准功能
实时相位 / 泽尼克多项式显示
视场角对准范围
±2°
可调对焦范围
±2.5m
使用环境
无需隔振
RMS 可重复性
<0.7 nm
测量精度
80nm p-v
动态范围（离焦值）
500 条纹 (SFE = 150 m）
可测反射率范围
4% ~ 100%
Fizeau 干涉仪（左）与Kaleo-MTF（右）测试镜片结果比较 - 产品优势
- 有别于基于传统Fizeau 干涉仪的方法，采用位相检测方法直接构建的动态干涉 仪既不需要移动待测元件多次曝光，也不需要采用偏振等复杂的光学手段，针 对待测元件进行一次测量即可获得其反射面型或透过波差；Kaleo-Multiwave 多 色动态干涉仪可用于光学元件面型检测、透过波差测试、大型望远镜系统测试 及实时调整等。大动态范围像差测试能力使其可测平面/ 球面波而无需中继镜， 无色差检测能力允许使用多个波长甚至白光进行测试。 Kaleo-Multiwave 集成了可切换波长的准直光源，可以对大口径镜片进行直接或对比测量
- 技术资料
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- Kaleo-Multiwave
- Phasics-SID4V-Vacuum-Wavefront-Sensor
- PHASICS-Kaleo-MultiWAVE
- Phasics-Kaleo-i-1
- Phasics-Kaleo-Bench-IR
- PHASICS-Brochure-Kaleo-MTF
