测角仪可移动，可以测更大度数的2Θ角

对到晶格空间进行放大探测

采用双光束，有很大的灵活性

在IPDS II 的基础上进行拓展，可测2θ角最大值137°；

适用于铜反射和电子密度测量；

软件可用于数据收集和计算；

即使是比较复杂的样品（多域调制晶体），也能够提供有效的分析结论

支持DACs

规格参数：

尺寸：1680 x 880 x 2110mm；双仪器结构：2050 x 1260 x 2110mm

重量：420 kg； 双仪器结构：600kg

最大2θ =137°

测角仪：ω：180°，φ：360°

2θ：0°，5°，30°，45°，60°

探测器间距：40 - 200 mm (自动设定值)

最小d/?：0.30 Ag KA， 0.38 Mo KA，0.83 Cu KA

X射线源：密封管： Ag, Mo, Cu

微焦点源： Ag, Mo, Cu

成像板尺寸(活动区)：340mm

噪音：因为无暗流，因此噪音很低