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智能卡芯片弯曲测试机

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详细介绍

HY(IC)IC卡动态弯扭试验机

技 术 参 数

配 置

本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1,国标GB/T-17554.1-2006ISO10373ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。

外形尺寸:L670 X W380 X H220

器重量:70kg

AC220V±5%

率:35W

速度:曲 扭曲30r/min0.5Hz

周期:1~9999

扭曲度 :±15°±1° d=86 mm

正反向各15°,总扭曲角度30°

长边最大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

长边最小位移量为2mm±0.50mm

短边最大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

长边最小位移量为1mm±0.50mm

夹具安装尺寸完全按照国家标准执行。

1 IC卡动态弯扭试验机主机一台;

2、配置:

1)常用调试工具套:

2)台湾STK交流调速电机系统一套;

3)台湾衡翼高精度齿轮减速系统一套;

4)高精度光电计数器一套

4台湾衡翼高精度计数系统一套;

3、产品用途:

智能卡芯片弯曲测试机 用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。


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