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HITACHI EA600VX 扫描X射线荧光光谱仪
- 品牌:日本日立
- 型号: EA6000VX
- 产地:亚洲 日本
- 供应商报价:面议
- 先馳精密儀器(東莞)有限公司
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销售范围售全国
入驻年限第9年
营业执照
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详细介绍
EA6000VX是一款结合精密光学系统,准确快速移动平台,微小准直器高端Vortex检测器和特殊滤波器的高端应用XRF检测设备。可应用于印刷电路板、太阳能电池之快速扫描成份分析、异物方析、膜厚测定。
特 点:
◆无需使用液态氧的高感度实现
◆超高速扫描(500点连续测定)及指定位置测试双重功能
◆多功能自动定位 ◆凹凸样品自动补正
◆超高解析样品图像 ◆高精度膜厚测定
◆微小异物查找 ◆透视扫描
1.高速扫描测量
通过结合了大幅提高的微小区域X射线莹光分析灵敏度和高速电动平台,能够快速获得二维扫描图像。特别是强化了对线路板中铅的扫描,配备了铅扫描专用滤波器。让1,000ppm以下无铅焊锡中的铅扫描变成简单可行。2.宽视野高清晰度光学系?
可获得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光学影像。以该光学影像可以直接精确指定测量位置,让操作性得到飞跃般的改善。此外,该光学影像可以和通过高速扫描获得的扫描图像进行重迭,可在大范围内进行高精度分析。
3.微小区域中微量金属的高速测量
实现了高密度微小X射线束以及配备的高计数率检测器,加上充分考虑到X射线莹光检测效率的设计,实现了高灵敏度化。微小区域中微量金属或薄膜都可在短时间内测量。即使是1mm x 1mm左右的微小区域也可以以100秒左右的速度测量其中的有害物质。
4.无需液氮的高计数率检测器
作为标准配置本公司独有的无需液氮的高计数率检测器,省去了繁琐的液氮补给程序。仅需数分钟的开机时间,同时电子冷却的规格具备了优异的可信性。运用的技术可以减少在液氮制造、搬运时产生的二氧化碳,以及提高测量速度后节省下的电力等,是一款考虑到环保问题的先进仪器。
5.微小区域的镀层厚度测量
可在十秒左右的时间完成对0.2mm x 0.2mm面积中Au/Ni/Cu(金/镍/铜)等薄膜多镀层的镀层厚度测量。此外,也可对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析。
基本规格
X射线发生部
照射方式
上部垂直照射方式
电压
最大50kV,多段电压切换
电流
4-1000μA,可做自动调整设定
准直器
4个,Φ0.2mm、Φ0.5mm、Φ1.2mm、Φ3mm (自动切换)
检测器
形式
Vortex硅半导体多阴极侦测器
冷却方式
电子冷却(不需要液态氮,也非冷冻机冷却)
一次滤波器
五种滤波器,6种模式可自动切换
样品观察
CCD监视器
高分辨率CCD彩色镜头 双系统
观察倍率
多倍数自动切换-
照明
LED灯,无影灯设计影像无阴影
同轴观察系
视野:6×4mm
分辨率:20um
WD:5mm、15mm、25mm电动
广域观察系
视野:250×200mm
分辨率:20um以下
自动桌面功能
指定测量位置
在画面上利用鼠标完成X-Y-Z的坐标输入
设定测量位置
原点的坐标和画像保存以及位置偏差角度的修正
确认测量位置
图表表示测量位置
再测量功能
通过和测量位置的连动,可以进行再测量
样品台
250(W)x200(D)mm
移动量
最大580(W)x450(D)x150(H)mm
最大样品厚度
150mm
载重量
5kg
电源容量,接地
AC 100V±10% 15A2系统第3种接地
热门应用领域:
RoHS/WEEE合金分析镀层厚度分析映图扫描分析(Mapping)太阳能应用无卤素应用