少子寿命测量仪BCT-400

BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.

因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。

作为最易于使用的测量工具－－BLS，只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话，请选择BCT-400。