表面阻抗测量表面阻抗测量是用于测量所有导电型、抗静电型及静电泄放型表面的阻抗或电阻。表面阻抗测量使用容易,高品质,高可靠度,该仪表还可测量影响电性能的相对湿度和温度。表面阻抗测量的特点:液晶数码显示;可充电电池;可测量桌垫、地板涂料层、漆面、腕带、工作服、鞋(鞋套)、袋子和容器;适合于标准规定的工作台面和地面;塑料仪表保护箱,防止仪表受损。
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FT-304A织物表面比电阻(电阻率)测试仪
品牌:宁波瑞柯微
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10 MV/G-100 MV/G 模制传感器
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德国Phystech RH2035霍尔效应测试仪器
- 品牌:德国PhysTech
- 型号: RH2035
- 产地:德国
PHYS TECH GmbH RH2035 霍尔效应测试仪器1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场:3-2-1磁场强度:0.45T 永磁体3-2-2磁场类型:永磁体3-2-3磁场均匀性:磁场不均匀性<±1
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德国Phystech RH2030霍尔效应测试仪
- 品牌:德国PhysTech
- 型号: RH2030
- 产地:德国
PHYS TECH GmbH RH2035 霍尔效应测试仪器1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场:3-2-1磁场强度:1T 电磁体3-2-2磁场类型:电磁体3-2-3磁场均匀性:磁场不均匀性<±1 %&
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