使用高xiao进样系统进行单纳米颗粒样品检测

近些年来，纳米颗粒材料被越来越广泛的应用于衣食住行等各领域内，由此带来的潜在的纳米颗粒污染问题，逐渐引起了人们的重视。单颗粒电感耦合等离子体质谱（spICP-MS）技术是近年来发展起来的可用于进行纳米颗粒表征的方法。使用此方法，可实现一次进样同时完成颗粒粒径、数量浓度、元素含量及粒径分布的分析。随着技术的不断发展，spICP-MS技术，包括硬件以及软件都得到了不断的完善。但目前使用常规单四级杆spICP-MS对样品中的纳米颗粒进行检测时，仍面临许多的挑战。其中，最主要的问题包括：1.在样品检测过程中，由于进样系统的设计，使得样品的传输效率较低，通常情况下为总进样量的1%-3%，因此会导致样品消耗量大，同时在纳米颗粒检测时需要延长采集时间才能够获得足够的信号数量来进行数据统计，从而造成样品浪费及检测效率低的问题。2.使用传统单四级杆spICP-MS检测质谱干扰较强元素的纳米颗粒时，由于干扰的原因，会出现纳米颗粒信号无法与背景信号区分的情况。在实际检测过程中，纳米颗粒样品量通常较小，因此，在检测过程中，应尽量减少样品消耗。同时，用户对于大量存在的硅、铁等天然或人工合成的纳米颗粒的检测需求较高，所以，为了克服上述问题，高xiao进样系统与三重四级杆spICP-MS的组合成为必然的选择。TQICP-MS是真正意义上的三重四级杆ICP-MS，采用双四级杆质量选择器（Q1和Q3）以及四级杆碰撞反应池（Q2）的设计，可以完mei实现上述提到的如硅元素等具有挑战性的元素的准确分析定量。而全新设计的单颗粒分析专用高xiao进样系统，则可以在实现微流（10微升/分钟）进样的同时，完成液体样品的100%进样，节约样品。本研究对此方法进行了初步的摸索。