用户论文:PLA 基纳米结构银薄膜的KJ性能

沉积在硅基底的FeO纳米颗粒GI-SAXS的测量可以通过SAXSess mc² 新的GI-SAXS

全文请访问：http://www.spm.com.cn/papers/p36.pdf 研究了硅质煤矸石的物

全文请访问：http://www.spm.com.cn/papers/p30.pdf 通过AFM研究，发现

德国FRITSCH公司是实验室应用仪器的专业制造厂商我们的仪器广泛应用于样品制备（研磨破碎筛分清洗）和颗粒粒

不同直径冲头对薄膜冲击性能测试结果的影响 摘要：薄膜的抗冲击性能是反映其柔韧性的一项重要的性能指标，是评价薄

薄膜收缩性能测试方法介绍与比较摘要：收缩性能是影响薄膜使用的重要性能之一，本文分别介绍了薄膜收缩性能测试常用

使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术

双束激光干涉仪对超薄膜的压电性能进行测试A new method for piezoelectric mea

麦奇克在测量打印机的颜料悬浮液微粒粒径方面已经建立了一套成熟的标准方法在高浓度进行测量以免稀释对分散产生影响