如何避免示波器测量过程中造成的测量误差呢？

在自动化生产线中经常看到自动上下料送料中，出现双张或多张料粘连一起送到下一操作设备，造成设备模具的损坏。那么如何避免出现双张或多张重叠问题而造成的设备的损坏。金属双张检测控制器就是专门针对金属自动送料出现的重叠问题而研制的一款产品，智能区分单双张的情况，从而发出信号给下一步操作设备，提前做出相应的措施避免设备模具的损坏，起到保护的作用。

一．金属双张检测器原理

金属双张检测器的原理是由“奥斯特”原理电生磁效应而创建的。T为发射端、R为接收端。当检测物体经过R、T产生的绕射磁场时，由于检测物体遮挡面积和厚度不同，R端反馈给主机信号的强弱也不同，从而主机可以判断是单张、双张或多张进入感应区间。

二．Atonm双张检测器的特征和功能

        金属双张检测器标准机初始画面

1、采用全金属外壳设计，屏蔽性好。

2、LED状态指示灯以及液晶显示，工作状态明了直观
3、不分区金属材料，片材自学习识别
4、检测厚度大，0.05-40MM；

5、调试简单，不区分材料的一键式动态学习

6、采用人性化设计，按键操作，操作方便，体积小巧易安装，功能完善

三．用途功能

专业保护自动上下料冲压机械手、自动送料机械手机器人必配件、五金冲压上料机械手机器人自动送料多张重叠检测控制器。

双张检测控制器一般应用于汽车零部件生产、冰箱、洗衣机、电饭煲等家电的金属部件冲压、折弯、裁剪工序；金属盖高速冲压，其它五金配件冲压等。在这些生产环节中自动送料的防双张重叠。印铁机，涂料机，裁剪机，冲压机，冲盖机，机械手，罐身电阻焊机等金属制罐包装行业机械设备的预防控制双张金属板（盖）重叠生产检测控制仪器。在马口铁印刷，自动送料机，机械手设备上，在这些生产环节中自动送料的防双张重叠，起到提高生产速度和效率，保证产品质量。

在我们日常使用示波器的时候，有时候会需要进行高分辨率测量，这个时候就可以把数字示波器看作一个整体系统，充分利用这套系统来改善测量结果，而不仅仅只是将数字示波器当成简单的模数转换器。我们在进行高分辨率测量的时候，必须考虑到整条信号路径，从探头JD，到示波器的模拟前端、再到采样和数字信号处理，都要考虑到。那么如何利用工具，将示波器的测量分辨率成功的提高到11位以上，来满足我们进行高分辨率测量的使用需求呢？今天安泰测试就给大家分享一下：

通过工具来将示波器的测量分辨率提高总共可以分为3个步骤来进行，分别是：探测、滤波、采样。ZX要进行的就是探测环节，在进行探测环节的时候，探头的选择和探头的设置至关重要，在设置探头的时候要ZD限度的降低衰减，使信噪比达到ZD；还可以使用短线，ZD限度的降低噪声耦合；同时还可以使用内置探头滤波器降低噪声。上面这一步完成之后，就需要利用DC信号去测量小AC信号了，如果说接近地电平的小信号测量起来极具挑战性的话，那么测量位于大 DC 分量上的低压 AC 信号的难度则要大得多。在电源上进行纹波测量是这种应用的常见实例。处理 DC 偏置可能会涉及探头设置以及示波器前端设置。探测环节ZH一步就是限制输入信号的动态范围，为测量信号在接地周围部分的细节，可以放大波形，信号更高的部分会偏移出屏幕。但必须注意，过度驱动探头或示波器输入放大器可能会导致失真，所以要特别小心。到这里，探测环节就已经完成了。

接下来就是滤波环节，滤波环节的操作步骤相对少一些，只有一个步骤，那就是使用硬件带宽限制和采样率降低噪声。在大多数情况下，在高分辨率测量中，噪声的影响要高于 ADC 分辨率。所以大多数的示波器和某些高级探头都有一条电路，用来限制着测量系统的带宽。并且在大多数情况下，在高分辨率测量中，噪声的影响要高于 ADC 分辨率。

ZH一个是采样环节，首先来看一下示波器的采集模式，在测量低压信号时，有两种采集模式非常重要，具体视波形的可重复性而定，因为它们可以用来改善测量分辨率：平均模式和 HiRes 模式。我们先来分析一下平均模式，平均模式是示波器采集系统中基本降噪信号处理技术之一。它依赖多次触发采集重复的信号。通过使用来自两次或两次以上采集的数据，这种模式逐点平均采集中对应的数据点，形成输出波形。接下来是HiRes 采集模式，HiRes 模式是泰克已获ZL的采集流程，它计算并显示每个采样间隔中所有顺序样点值的平均值。在 HiRes 模式下，通过获得进一步水平采样信息，可以提供更高的垂直分辨率，降低带宽和噪声。HiRes 处理在定制硬件中完成，以ZD限度地提高速度。通过上面的几个步骤，可以利用工具将示波器的测量分辨率准确WM的提高到11位以上，满足您的高分辨率测量需求。

如果您在使用示波器过程中有什么问题，欢迎咨询安泰测试，提供免费技术支持服务。