高温介电温谱测试系统 研发成功 隆重上市 三年质保 品质有保障

高温介电温谱测试系统

       高温介电温谱测试系统运用三电极法设计原理测量。并参考美国 A.S.T.M 标准。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的准确度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。

       搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。

       目前电网中大量使用变频器等高频、高功率设备，将对电网造成谐波干扰。从而在高频、弱信号测量过程中影响弱信号的采集，华测仪器公司推出的抗干扰模块以及采用新的参数分析技术,实现了高达120MHz的高频测量,从而满足了很多半导体,功能材料和纳米器件的测试需求.

消除不规则输入的自动平均值功能 更强数据处理及内部屏蔽

       华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的新的高度。解决同类仪器，在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术，在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。

专用高频测试线缆，更适合高频测量

测试引线使用4端子对配置以扩展测量端口，附带BNC阳头连接板，用于连接高温炉的测试夹具，同时测试线采用高频测试专用测试线，设计两层屏蔽。更适合高频介电参数测量。

仪器优势：

1、它可以匀速、阶梯（升\降温）、循环冲击，真空、气氛等多种的加热方式。

2、采用全新的移相触发技术，完全可实现控制精度波动±0.25°c 以内，温控精度更高。

3、加热速度更快、更快，同时它可以提供了材料的更多的测试环境。

设备优势

1、高速加热与冷却方式

       高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。

2、温度高精度控制

        近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以准确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。

3、不同环境下的加热与冷却

       加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体 静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。

更强的扩展能力，实现一机多用

█ 多功能真空加热 炉，可实现高温、真空、气氛环境下电学测试

█ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度

█ 设备配置水冷装置，降温速度更快、效率更高

█ 可实现介电温谱、介电频谱等测量功能

█ 进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更准确

█ 近红外加热，样品受热更均匀，不存在感应电流，达到JZ测量

█ 10寸进口触摸屏设计，一体化设计机械结构，更加稳定、可靠

█ 采用进口高频测试线，抗干扰能力更强，采集精度更高

█ 99氧化铝陶瓷绝缘，配和铂金电极夹具

█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容

设备测量参数

温度范围： RT-800 (高达1650)°C

样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

控温精度：±0.25°C

电极材料：铂金

升温斜率：10°C/min（可设定）

夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷

测试频率 : 10Hz~120MHz

绝缘材料：99氧化铝陶瓷

加热方式：近红外加热

测试功能：介电温谱、频谱

冷却方式：水冷

数据传输：4个USB接口

输入电压：110~220V

设备尺寸：600x500x350mm

ε介电常数、（ε'、ε''介电常数实部与虚部）、C电容、(C’、C''电容实部与虚部、D损耗、R电阻、(R'、R''电阻实部与虚部）、Z、（Z'、Z''阻抗实部与虚部）、

Y导纳、Y’、Y''（导纳实部与虚部）、X电抗、Q品质因数、cole-cole图谱、机电耦合系数Kp、等一系列测量参数及介电温谱与频谱等测试功能。

热释电系数测试仪

 GB T 3389-2008 压电陶瓷材料性能测试方法

一、热释电系数测试仪简介：

        压电陶瓷除了具有一般介质材料所具有的介电性和弹性性能外，还具有压电性能。压电陶瓷经过极化处理之后，就具有了各向异性，每项性能参数在不同方向上所表现的数值不同，这就使得压电陶瓷的性能参数比一般各向同性的介质陶瓷多得多。压电陶瓷的众多的性能参数是它被广泛应用的重要基础。

        本设备可以分析被测样品热释电系数随温度、时间变化的曲线，通过软件将这些变化曲线的温度谱、时间谱等集成一体并进行分析测量并可以直接得出样品的热释电图谱。对试样大小及形状无特殊要求，圆片、方块、长条、柱形等均可测量，可广泛用于铁电、压电材料（压电陶瓷、高分子）以及相关器件性能的评价与测试。  

         本试验仪器采用动态电流法测量压电陶瓷材料的热释系数，测热释电系数测试系统的功能就是实现对微弱热释电电流信号和温度信号的实时测量。其构成可以分为:热释电样品加热、温度测量、升降温速度控制、热释电电流测量和测量数据处理通过工业计算机数据处理，得出压电陶瓷材料的热释电系数。

         热释电系数测试系统基于热释电动态电流法设计,由温度控制器、加热炉体、微电流放大器、温度测试仪以及计算机软件系统组成。温度控制器控制加热炉体内部温度;样品的电流信号通过微电流放大器、输入到计算机;而温度信号则直接通过温度测试仪传送到计算机。能测量具有热释电性能的单晶、陶瓷、厚膜及薄膜材料样品, 适用范围广。

二、热释电系数测试仪技术参数：

测量温度：室温~200℃；

控温精度：±0.5℃，

测温精度：±0.5℃；

升温斜率：1-5℃/min（可控）；

降温斜率：1-5℃/min（可控）；

电流放大器：AD4530

电流范围：fA (10−12A)~20mA

电压采集输入阻抗：1X1012Ω

三、热释电系数测试仪产品特点：

采用新的RAM嵌入式开发平台;

可以进行在线升级、远程协助及故障诊断；

采用目前精度高的电流放大器AD4530

集成10.1”电容触摸宽屏显示，软件操作更加流畅，体验感更好；

加温装置、测量夹具、显示及软件集成于一体；

测量精度会高，仪器更加稳定且易维护；

可实现压电陶瓷的热释电系数测试；

实现常温、高温、等多环境下测试

        温度控制部分由可控硅移相器和升降温控制电路组成 。 可控硅移相器控制可控硅导通角的变化来控制加热器电压的大小, 从而控制了加热炉的升降温过程。升降温控制电路内部具有时间程序控制, 通过调节时间程序给出一定时间间隔的脉冲信号, 控制可控硅移相器, 进而逐步增减可控硅的导通角以保证加热炉温度随时间近似线性上升。

四、强大的软件功能：

        HC5000系列测试系统的软件平台 hacepro ,采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求，具备强大的的稳定性与安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复，支持新的国际标准。兼容，XP、win7、win10系统。

五、友善的使用介面

█ 多语介面：支持中文/英文 两种语言界面；

█ 即时监控：系统测试状态即时浏览，无须等待；

█ 图例管理：通过软件中的状态图示，一目了然，立即对状态说明，了解测试状态；

█ 使用权限：可设定使用者的权限，方便管理；

█ 故障状态：软件具有设备的故障报警功能。

HCP650-PM温控探针台

一、温控探针台简介：

HCP650-PM温控探针台可单独使用，也可搭配显微镜／光谱仪使用。 其可在－190°C ~ 600°C范围内控温，同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。 探针台上盖与底壳构成—个气密腔，可往内充入氮气等保护气体，来防止样品在负温下结霜，或高温下氧化。

         HCP650-PM温控探针台，是一款温度范图－190°C~600°C 的温控探针台。 使用时还可对样品气氛进行控制。 这样即使在极低温度下，腔体也不产生结霜影响实验， 又可以防止样品发生氧化。此款温控探针台通过杠杆式支架， 使用的是弯针探针。 相比传统的直针探针， 这种设计不仅点针更准确， 而且点针力度更大， 和样品的 电接触性更胜一筹。

冷热台可配合KEITHLEY Keysight等国际品牌测量源表进行电学性能测量。

二、温控探针台产品特点：

1、可编程精密控温。可独立控制

2、探针需开盖移动，样品台面电接地

3、4探针，分别导通冷热台外壳上的4个BNC接口杠杆式探针支架，电接触性更好，弯针探针，点针更准确

4、默认气密腔室，2个快速自锁接头，可充保护气体 上盖带有样品观察窗

5、内置干燥气体管道，用千负温时对视窗的除霜

6、视窗可拆卸与更换，不同材质窗片实现不同观察

电学参数：

三、温控探针台温控参数：

温度范围－190°C ~ 600°C （负温需配液氮制冷系统)

传感器／温控方式 1000铅° RTD / PID控制° （含LVDC°降噪电源）

ZUI 大加热／制冷速度：＋80 (/min (100 (时）－50 (/min (100°(时）

最小加热／制冷速度：±0.01°C /min

温度分辨率：0.01°C

温度稳定性：±0.05°C（>25°C），±0.1°C（>25°C）

软件工程：可设温控速率，可设温控程序，可记录温控曲线

加热参数

加热区/样品区： 28mm x30 mm

样品腔高：6.3mm *样品ZD厚度由探针决定

放样：打开上盖后置入样品再点针，关上盖后无法移动探针

气氛控制：气密腔，可充入保护气体

外壳冷却：可通循环水，以维持外壳温度在常温附近

安装方式：水平安装或垂直安装

台体尺寸／重量：180mm x 130 mm x 26 mm/ 1500g

压电陶瓷极化专用电源

压电陶瓷极化专用电源仪器优势：

1、采用先进的GIBT电压驱动式功率半导体器件与倍压整流方式实现，升压更加平稳．

2、设备直流输出纹波更低， 更适合功能材料极化， 设备采用TVS保护，更加安全。

3、配合华测生产的循环油加热系统， 采用上位机控制升压与加温，更加稳定。

高压直流电源：

华测HCHV系列系列高压电源是高性能机箱式高压电源， 具有完善的保护系统。 可遥控或本地控制，前面板有电压、电流显示，高压输入端过压、过流、短路保护、拉弧、过温保护和安全锁等功能。 宽范围调整和灵活的多项可选功能． HCHV系列是一种高性能、 高可靠性、 高品质的直流高压电源，更适合材料电学高压试验与材料检测。

压电陶瓷极化专用电源产品参数：

输入电压：200V to 240V  VAC±10%  50/60Hz      

输出电压: 20kV、30kV、50kV、60kV、80kV、100kV多种规格，也可按用户要求定制电源

输入电压控制:外部控制电压：0 - 10 V  （ 输入阻抗大于10 KΩ）

直流偏压: 前面板电位计设置在- 100 %和+ 100 %之间

纹波:0.02%±1 Vp-p

稳  定 性:0.016%

显示方式:VFD显示屏

电压监视:面板BNC  -10V ~+10V，输出阻抗 1KΩ

电流监视：面板BNC  -10V ~+10V，输出阻抗 1KΩ

保护：过压保护、过流保护、接地保护、短路保护

使用温度：0°C to +40°C

保存温度：-20°C to +60°C

湿度：20% to 75%RH

配     件：电源线 1.5m，高压输出电缆 1.5m

产品规格：

高压放大器

          高压放大器将输入电压转换为高压及波形输出如下图所示。目前，对高压放大器的需求越来越大越来越多，现在已经成为研究中不可或缺的工具并为这些领域开发、试验和集成一个系统，如电子、物理、生物、化学、YL等行业。华测生产的各种高压放大器，满足客户的对功能材料测试的要求。

产品特点：

高压放大器选型：

高温介电温谱仪是什么？

 　　高温介电温谱仪是一款专门用于评估电介质材料高温介电机制（材料极化、储能、驰豫、相变、微结构变化、分子团重新取向等）的重要测量系统，该系统通过测量介电常数、介电损耗和阻抗、相位随温度、频率变化的关系，直接得出电介质材料的温度谱、频率谱、阻抗谱、Cole-Cole图等重要的物理性能参数。高温介电温谱仪是科研实验室新材料的开发和研究、生产质量控制和生产工艺优化的重要工具。

　　高温介电温谱仪从专业角度来说，其实就是高温介电温谱测量系统。高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电测量系统软件四个组成部分。高温测试平台是为样品提供一个高温环境；高温测试夹具提供待测试样品的测试平台；阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。Z后，再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的高温介电温谱测量系统。

　　高温介电温谱测量系统就是可以在高温、真空、气氛测量条件下测量电介质材料的介电常数和损耗、阻抗谱COLE-COLE图、机电耦合系数Kp的科研仪器设备。除高温介电温谱测量系统外，北京华测试验仪器有限公司还有高低温介电温谱测量系统、低温介电温谱测量系统（由低温真空探针台和介电测量套件组成）等。

高、低温介电测量系统用于分析宽频、高、低温环境条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线，是专业从事材料介电性能、温度弛豫、电弛豫研究的理想测试工具。用户通过软件可以直接得出介电间、频率、偏压变化的曲线，高温介电测量系统是功能材料测试必备电学性能评估设备。系統搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行频率、温度、时间、测试项等设置，符合材料测试多样化测试的需求。

本系统主要用于材料在不同温度不同频率下的电学性能测试，系统包含高、低温环境、阻抗分析仪、测试夹具，测试软件于一体，可测试材料的介电常数，介质损耗，阻抗谱Co-Co图，机电耦合系数等，同时可分析被测样品随温度，频率，时间变化的曲线，测试治具可以根据产品及测试项目要求选购；,实现了自动完成不同环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外，还可根据用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量，同时输出，测量效率高、数据丰富多样。

宽频介电阻抗谱测试仪系统

系统功能：

宽频介电谱仪可以通过与宽频阻抗的完mei结合达到极宽的频率范围（20HZ-120M）；能灵敏地测量高分子材料介电常数及损耗等参数；具有极宽的阻抗分析范围（10mΩ~100TΩ）；可以测量各种固体、薄膜材料。其自主研发的全自动在线控制软件可以实时进行多达不同参数的测量与分析。

本仪器还可以进行不同温度范围的测量，自主研发精确温度控制系统，可以满足不同电介质材料测量时对温度范围和控温精度的不同要求，配合高低温测试模块，用于研究电介质材料在高温条件下的介电性能。

宽频介电阻抗谱仪不仅是实验室开发和研究新材料的重要测量手段，也是生产质量控制和优化生产工艺的强有力的工具。宽频介电阻抗谱仪广泛应用于化学、物理化学、电化学、电子、电工工程、材料科学、生物学和制药等领域，特别是聚合物、树脂、陶瓷、橡胶、玻璃、液晶、石油及悬浮体等材料的研究。

设备单元框图

宽频介电阻抗谱仪测试系统硬件主要包括阻抗分析仪、高阻计、高压放大器、温控模块，高低温测试环境（测试夹具）、工控电脑、供电及测试线缆构成。

设备测试功能框图

宽频介电谱仪可实现常温环境下的介电常数及损耗测量、高低温环境下的介电温谱及介电频谱测量，也可以进行不同温度下超高阻测量以及TSDC热激励电流测量功能。