参与评论

评论

登录后参与评论

全部评论(2条)

• 

  朝天*了一管 2012-10-13 00:00:00

  做质谱图是要用高能粒子轰击待测化合物，那么出现分子被轰走一个电子时Z容易（轰断化学键当然难些），那么质谱仪测出质荷比m/qZ大时得到的谱线对应的数值即是待测化合物的相对分子质量。

  赞(16)

  回复(0)

  评论

  评论

  登录后参与评论

• 

  沾化人lv 2012-10-13 00:00:00

  Z先看分子离子峰。怎么判断分子离子峰？一般是Z大的明显可见碎片。如果有已经结构就好办，如果没有，一般判断出分子离子峰之后，要进行确认。确认的办法是看Z大的碎片和第二大的碎片的差值是否合理。多数减15，也有减18或43，这样看具体情况。如果有这样的碎片就认为是分子离子峰的可能性很大。然后再看基峰。基峰是质谱图二维结构中的纵向看法。从基峰来判断物质Z为稳定的碎片是不是和你想象的相同，以此为基础增减碎片来判断其它的可能结构。 具体解析可以参考分析化学手册 第九分册的质谱一书。

  赞(18)

  回复(0)

  评论

  评论

  登录后参与评论