法国电源插头是什么样

法国可替代能源和原子能委员会(The French Alternative Energies and Atomic Energy Commission，CEA) 是法国重要的研发机构，旨在协调和推动法国在低碳能源(核能和可再生能源)、国防和安全（数字科学）、工业技术、自然科学和生命科学方面的研究和发展。CEA与许多研究机构、高校、地方当局和企业建立了紧密的合作关系，在法国的产业竞争战略中发挥着关键作用。CEA Tech 作为CEA的技术研究部门，凭借其广泛认可的专业知识和独特的文化理念和创新能力，为企业提供由CEA运营部门开发的核心产能技术，有效地弥合了科研（学术）和商业化（应用）之间的差距，为工业开发和新技术传播做出了巨大贡献。[1]

CEA Tech拥有三个实验室：Leti、Liten和List，主要开发信息通讯技术（Information and Communication Technologies，ICTs）、能源和医疗领域的一系列技术产品。其中，CEA-Leti（Laboratoire d’ èlectronique des technologies de I’information）成立于1967年，是CEA Tech下属的一家技术科研机构，也是法国的39个卡诺研究所之一，与来自不同领域多达220家的公司开展研发项目，主研方向涉及微纳技术，微纳机电系统(MEMS和NEMS)。Leti提供广泛的技术服务，涵盖MEMS和NEMS的整个开发周期，解决传感器、开关、射频组件、3D集成、表征和可靠性测试等问题，打破学术与产业之间的壁垒，成功地将研究成果转移到工业世界。[2]

毋庸置疑，科研产业化离不开先进分析技术的支持。由CEA-Liten、CEA-Leti等联合运营的纳米表征平台（Nanocharacterization Platform，PFNC）拥有大约50台先进的表征设备，包括XPS、TOF-SIMS、Nano Auger、WAXS、SAXS 、EBSD SEM、TEM、HR-TEM、FIB SEM (3D) 、Raman和FTIR等，涉及样品制备、表面和离子束分析、扫描和透射电子显微镜、x射线成像以及分子光谱学等，以此获取材料表面、界面和内部特性的信息，研究人员结合多个信息源可以创建多尺度分析，并通过关联来自不同工具的数据做出更可靠的分析，在CEA的成果转化中起着重要作用。[3] 特别地，CEA-Leti先后在ULVAC-PHI购买了AES（PHI 700）、XPS（PHI VersaProbe Ⅱ和Quantes）以及TOF-SIMS（nano TOF Ⅱ）,这些设备为CEA的研究工作提供了强有力的技术支持。

Olivier Renault博士是CEA-Leti计量与物理表征部门的首席科学家，也是纳米表征平台表面分析小组的负责人，主要致力于光电发射技术、分析设备以及相关材料表征方法的研究，包括利用X射线光电子能谱(XPS)、硬X射线光电子光谱学(HAXPES)、光电发射电子显微镜(PEEM)和同步辐射技术进行元素、化学态、功函数和能带结构成像分析等，在相关领域已发表SCI文章60余篇。Olivier Renault博士利用PHI Quantes 设备的Cr Kα (5414.8 eV) X射线源开展了大量HAXPES测试工作。[4]

ULVAC-PHI作为全 球技术领先的表面分析仪器厂商，一直致力于开发最 先进的仪器设备和提供最 优质的技术服务，力图帮助用户解决科研和生产中的相关难题，共同推动表面分析技术的发展。

参考资料：

[1]https://www.cea-tech.fr/cea-tech/english

[2]https://www.leti-cea.fr/cea-tech/leti

[3]https://liten.cea.fr/cea-tech/liten/english/Pages/Work-with-us/Technology-platforms/Nanocharacterisation.aspx

[4]DOI:10.1116/6.0001508, DOI:10.1116/6.0001509, 

DOI:10.1116/6.0001510, DOI:10.1116/6.0001511, 

DOI:10.1116/6.0001512, DOI: 10.1116/6.0001513