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压力容器X射线探伤安全范围及范围形状分析?

色字都上一把刀 2006-01-10 16:06:04 505  浏览
  • 除了操作人员,还要考虑周围人员的安全问题。

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热门问答

压力容器X射线探伤安全范围及范围形状分析?
除了操作人员,还要考虑周围人员的安全问题。
2006-01-10 16:06:04 505 1
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我家后面有一个工厂是做化工压力容器的,有时会露天探伤,我们距离大概在40-50m 。我怀孕2个月了,上次他们露天探伤大概有1小时,我想知道这对小孩有没有影响?
2017-12-14 15:18:43 1021 1
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2017-09-18 19:14:50 3068 1
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我们单位现在使用有几十台X射线探伤仪,根据有关规定是不是应该有一些允许使用的各种证照,比如说安全方面的,或者其他的,谢谢
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2018-12-04 19:44:24 290 0
台阶仪的应用范围及特点

台阶仪属于接触式表面形貌测量仪器 。根据使用传感器的不同,接触式台阶测量可以分为电感式、压电式和光电式3种。

 

产品特点:

·操作简易,从研发到质量控制都有更好的过程控制。

·能够在微电子,半导体,太阳能、超高亮度发光二极管(LED)、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。

·测量精度较高、量程大、测量结果稳定可靠、重复性好

·可以作为其它形貌测量技术的比对

主要应用范围:

·大学、研究实验室和研究所
·半导体和化合物半导体
·LED:发光二极管

·太阳能
·MEMS:微机电系统
·数据存储
·汽车
·医疗设备

 

布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供无与伦比的重现性,重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。通过整合其行业领先产品,DektakXT实现了最高性能。


更多详细资料,可联系上海尔迪仪器科技有限公司,拨打电话021-62211270!021-62211270!


2021-11-26 15:05:12 599 0
台阶仪的应用范围及特点

台阶仪属于接触式表面形貌测量仪器 。根据使用传感器的不同,接触式台阶测量可以分为电感式、压电式和光电式3种。

 

产品特点:

·操作简易,从研发到质量控制都有更好的过程控制。

·能够在微电子,半导体,太阳能、超高亮度发光二极管(LED)、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。

·测量精度较高、量程大、测量结果稳定可靠、重复性好

·可以作为其它形貌测量技术的比对

主要应用范围:

·大学、研究实验室和研究所
·半导体和化合物半导体
·LED:发光二极管

·太阳能
·MEMS:微机电系统
·数据存储
·汽车
·医疗设备

 

布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供无与伦比的重现性,重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。通过整合其行业领先产品,DektakXT实现了高性能。

 

2022-08-30 10:45:02 276 0
铁谱仪分析范围是什么

铁谱仪分析范围是什么?

铁谱仪作为一种精密的分析设备,广泛应用于材料科学和工程领域,尤其是在钢铁行业中。其主要功能是通过分析金属中的微观组织结构,帮助工程师了解材料的成分、质量以及性能。本文将深入探讨铁谱仪的分析范围,包括其在不同领域的应用、所能检测的金属种类以及该设备在提高产品质量方面的优势。通过了解铁谱仪的分析能力,您将能更好地理解其在材料分析和质量控制中的重要作用。

铁谱仪的工作原理

铁谱仪的工作原理是基于金属材料在不同条件下的物理变化,尤其是铁磁性材料在磁场中的行为。该设备通过高精度的传感器扫描样品表面,获取相关的磁性信息,并通过计算机处理与分析,得到材料的微观结构特征。通过这些数据,能够有效评估材料的成分分布、晶粒大小、孔隙率等重要性能指标。

铁谱仪的应用范围

  1. 钢铁行业:铁谱仪在钢铁行业的应用为广泛,尤其是在钢材的质量控制过程中。通过对钢铁样品进行分析,铁谱仪能够识别其中的杂质和析出物,提供钢材成分和性能的准确数据。这些数据不仅帮助企业优化生产工艺,还能提高终产品的质量稳定性。

  2. 铸造与金属加工:在铸造和金属加工行业,铁谱仪用于检测铸件的质量,尤其是在铸造过程中识别潜在的缺陷。例如,气孔、裂纹或非金属夹杂物等,铁谱仪能迅速检测到并提供相关数据,有效提高生产过程中的质量控制能力。

  3. 航空航天及汽车行业:在航空航天和汽车制造业,铁谱仪用于精密零件的质量检测,尤其是对高强度钢材和合金材料的监测。这些行业对材料的性能要求极高,铁谱仪能够帮助识别材料的微观结构变化,确保产品的可靠性和安全性。

  4. 腐蚀分析:铁谱仪也广泛应用于材料腐蚀分析。它能够准确评估金属表面因长时间暴露在特定环境中所发生的物理变化,提供有助于延长材料使用寿命的改善建议。

铁谱仪分析的优势

铁谱仪在分析过程中提供的数据精确度高,能够揭示材料的微观结构变化,这对于提高生产工艺和优化材料性能具有重要意义。与传统的分析方法相比,铁谱仪能够更加迅速、准确地获取关键信息,减少人工干预,并且具备较高的自动化程度,极大地提高了分析效率。

铁谱仪还能够为金属材料的质量控制提供数据支持,从而帮助企业识别潜在的质量问题,及时调整生产工艺,有效降低废品率。

专业总结

铁谱仪是一项先进的材料分析技术,其分析范围涵盖了从钢铁行业到航空航天等多个领域。其通过精确的磁性分析,能够揭示金属材料的微观结构特征,为质量控制和工艺优化提供了坚实的数据支持。随着技术的不断进步,铁谱仪的应用范围和分析精度将进一步提升,成为各大工业领域中不可或缺的重要工具。

2025-01-20 19:45:15 116 0
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2018-12-07 00:00:36 352 0
自动浊点测定仪性能特性及应用范围

自动浊点测定仪系采用现代高新微电子控制技术,采用MCS-51系列单片机作为系统控制核心,配制7寸256色智能彩屏显示器和万年历时钟计时显示及屏幕式触摸按键的配置,确保了整机的先进性和可靠性; 中文液晶显示,人机菜单式对话,向导式操作,测定过程完全按照 GB/T6986《石油产品浊点测定法》方法要求进行的,浊点测定过程全部自动化(即自动对试样,采用红外光导纤维光缆传感技术进行对试样的浑浊性-浊点进行检测,制冷控温,自动打印记录)。实现对试样的自动化分析测定。其特点是将国家标准GB/T6986《石油产品浊点测定法》规定的操作步骤完全实现了自动化;达到了结果准确、重复性好、稳定可靠、操作简便,并结合现代新的工艺方法研制而成。整个仪器设计先进、结构合理、操作简单、安全可靠,适用于炼油厂、电力、铁路、航运、石油公司及油料商业部门对石油产品的浊点的测定,测量结果符合国家标准 GB/T6986《石油产品浊点测定法》的规定。


2021-04-07 16:22:51 336 0
Bruker纳米红外光谱仪优点及应用范围

Bruker 公司的Anasys nanoIR3型纳米红外光谱测量系统,是一款基于原子力显微镜(AFM)的纳米表征工具。其采用独有专利的光热诱导共振技术(PTIR,也称AFM-IR),使红外光谱的空间分辨率突破了光学衍射极限,提高至10纳米级别。为揭示纳米尺度下的表界面红外光谱信息提供了可能。该技术曾荣获2010年度美国R&D100大奖。

 

Bruker纳米红外光谱仪主要由红外光源、光阑、干涉仪(分束器、动镜、定镜)、样品室、检测器以及各种红外反射镜、激光器、控制电路板和电源组成。可以对样品进行定性和定量分析,广泛应用于医药化工、地矿、石油、煤炭、环保、海关、宝石鉴定、刑侦鉴定等领域。

 

由于超高空间分辨率的红外光谱采集和化学成分成像,被公认为近十来年光谱领域最大的技术进步。该技术曾荣获2010年度 美国R&D100大奖。

 

在广受欢迎的第二代纳米红外光谱 系统的基础上实现快速扫描功能,光谱采集速度< 1s/光谱;专利的轻敲模式纳米红外将空间分辨率提高至 10nm以上,并大大提高红外成像速度,并使得较软的生物材料等软物质的化学成像实现质的飞跃。

 

优点:

 

·消除研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合,没有吸收峰的任何偏移

 

·基于专利保护的脉冲共振增强技术:实现单分子层超薄样品化学分析

 

·专利技术实现智能的光路优化调整,无需担心光路偏差拖延你的实验进度

 

·最准确的定性微区化学表征,得到美国国家标准局NIST,橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可

 

·简单易用的操作,被三十多位企业用户和过百位学术界用户所选择

需要bruker其他型号的产品,可拨打电话021-61552797咨询上海尔迪仪器科技有限公司

产品资料介绍

Bruker纳米红外光谱仪支持全系列扫描探针显微镜模式

Contact Mode(接触模式)

Tapping Mode(轻敲模式)

Lateral Force Microscope(横向力/摩擦力显微镜)

Phase Imaging(相位成像)

Magnetic Force Microscopy (磁力显微镜)

Electrostatic Force Microscopy (静电力显微镜)

Conductive Atomic Force Microscopy (导电原子力显微镜)

Kelvin Probe Force Microscopy (开尔文探针力显微镜)

Force Curve Spectroscopy(力曲线)

Liquid Imaging(液态环境扫描)

Heater-Cooler Imaging(高低温环境扫描)

SThM(扫描热显微镜)

Nano-TA(纳米热分析)

LCR(洛伦兹纳米力学分析)


2021-11-26 14:53:36 1273 0

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