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sem扫描电镜测量需要多长时间

吟荡而强大 2016-10-12 23:28:48 594  浏览
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全部评论(1条)

  • ivylysky 2016-10-13 00:00:00
    测量时间因样品类型和测试要求而不同。 电镜测量过程包括:制样→放样→确认位置→拍照、测试等。 1、对于简单样品,可能不需要特别制样,直接取样放样(要抽真空)就可以,该过程可能需要几分钟到十几分钟;对于负责样品,可能需要断开、抛光腐蚀或者其他处理,时间就不能确定了,有的可能要半天,抽真空放样可能半个小时; 2、如果单纯拍几张照片,没有特别要求,几分钟就可以确认位置和拍完照片,如果在样品上找某些特定的特征拍照时间就可能长很多(这也与拍照人的操作熟练程度有关),如果还要测能谱或者其他的内容,时间可能会更延长。 如果楼主不能判断自己样品符合以上哪些内容,不能确认时间,可以详细说下你的样品和测试内容,才能准确知道测试时间

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SEM系列ZT|优化扫描电镜的景深

       提到扫描电子显微镜(SEM)的“景深”,可以用摄影来做类比,两者都可以获得高清图片,也都要确定需要聚焦的位置。

       拍照时,您感兴趣的物体应该总是处于焦点位置,并且尽可能清晰。从艺术的角度来说,聚焦可以将摄影师的关注点传达给观察者,而在实际应用中,聚焦良好的图片可以展示大量细节信息。

       但是待拍摄物体中有多大部分是真正处于聚焦状态,这部分占比又是如何调控的呢?对焦状态的图像部分始终是一个平面,这意味着我们只能对wan美的平面进行成像。幸运的是,只要物体中的各部分“足够接近”焦平面,我们的大脑就可以处理,这部分称为景深。

       影响景深的参数有几个,调整这些参数可以使图片中包含的信息变多或变少,其中,光阑直径和聚焦装置(摄像头和扫描电镜镜筒)至关重要。

       物体与成像设备之间的距离也是极其重要的因素。

  • 通常,物体越远,景深越大,更多物体变得足够清晰,使得大脑能够处理和区分;

  • 物体越近,景深越小,清晰度或分辨率会提高,可以看到物体太远时看不到的细节。

不同景深下的两张照片

(左图)花儿特写镜头-近距离拍摄,背景变得模糊。

(右图)风景照-远距离拍摄,景深从几厘米增加到几公里。


电子显微镜是如何聚焦的


       电子显微镜中,焦点是指入射电子束圆锥直径Z小时的位置。。电子源发出电子束,镜筒内的电磁透镜和末端光阑约束电子束并决定Z小束斑尺寸。

       当电子束直径接近Z小值时,分辨率提高。通常达到特定和Z优“工作距离”-(镜筒底部和样品之间的距离)时,可取得该值。

       焦平面是指电子束直径Z小处对应的水平面。电子束对焦时,所有处于焦平面的特征物都将非常清晰。校正焦点意味着改变焦平面高度,焦平面上下的所有特征将会逐渐模糊,直到无法识别。


工作距离如何影响景深


       景深是指工作距离的一定范围,在该范围内,图像的清晰度可以接受。理想的工作距离将在聚焦后呈现Z佳分辨率。

       然而,有些情况下,例如,在观察较高样品时,分辨率变得不太重要,反而景深对结果的影响更大。对昆虫进行成像时,关键是要让画面中的所有特征都清晰可辨,比如它的腿和头。对电子线路连接成像也是如此,完整观察样品需要在同一图像中聚焦整个电线和电路板。在这种情况下,较长的工作距离有助于获得更大的景深,得到更多细节清晰可见的图像。

       电子镜筒、电子束和焦平面图示。(左图)工作距离越长,α角越小,远离焦平面不会使图像变得太模糊。(右图)工作距离缩短, β角变大,远离焦平面使得电子束直径不断增大,因此图像变得更加模糊。反之,焦平面上的电子束直径越小,图像分辨率越高。

       样品越靠近镜筒,电子束角度越大。这意味着与焦平面的微小偏差将导致电子束直径不断增大,从而使得图像更加模糊。

       反之,样品距离镜筒越远,电子束角度越小,与焦平面高度的偏差所导致的电子束直径变化也就越小,因此,可以清晰地观察到不同高度处的所有特征物。

       通常,扫描电子显微镜的景深可以从几微米增加到几毫米,通过调整景深,可以对需要ZD关注的特征进行深入观察,获得高质量的图像从而取得Z佳的分析结果。

       如您希望了解更多有关扫描电镜的信息,请填写表单与专家交谈。(填写地址:https://www.thermofisher.com/cn/zh/home/global/forms/questionnaire-2017-form-cn.html?cid=cn-ebz-soc-wec-camp-wechat2018-aMSD-pc-mkt-05282018)

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SEM系列ZT|扫描电镜之EDX 能谱分析介绍

从寻找食品污染物到识别机器故障,再到预测飞机零件的腐蚀方式,能谱分析(EDX或EDS)是当今材料科学家广泛采用的技术。与扫描电子显微镜(SEM)一起使用时,EDX探测器可以提供更多样品信息。


使用EDX,研究人员可以快速得到有关样品化学成分的信息,包括元素构成、分布及浓度。


但是EDX到底是如何工作的

利用扫描电子显微镜,各种信号可以提供给定样品的不同信息。

例如

背散射电子生成衬度图像,显示出原子序数差异。而二次电子则提供样品的表面形貌信息。当扫描电子显微镜与EDX探测器结合使用时,X射线也可以用作产生化学信息的信号。


为了更好地理解X射线的产生原理,我们要清楚,每个原子都拥有特定数量的电子,且电子处于特定的能级。正常情况下,电子在特定的轨道上运行且具有不同的、分立的能量。

EDX分析原理

电子束轰击原子内层,激发出基态原子的内壳电子,在内层留下带正电的电子空穴。内层电子离开原子后,处于较高能级的外层电子会填充这些低能级的空穴,多余能量可能会以 X 射线形式放出,而这种X 射线的能量分布可以反映特定元素和跃迁特征。

X射线生成过程:

(1)能量传递给原子中的电子,使其离开原子留下空穴;

(2)较高能级的外层电子填充空穴并释放出特性X射线。

此种X射线可以用硅漂移探测器收集,并结合软件对其进行测量和解释。化学信息可以通过元素面分布和线扫描等多种方式实现可视化。这样,利用X射线也就可以识别样品中的各种元素。

有趣的是,EDX还可用于定性和定量分析,也就是识别样品的元素类型以及每种元素的浓度百分比。与传统扫描电子显微镜一样,EDX 技术几乎不需要样品制备,并且无损,不会损坏样品。

EDX分析以其多种优势,已在制造业、研究领域、能源资源管理、快消品等多个行业得到广泛应用。EDX 已经成为扫描电子显微镜的重要部分,利用扫描电子显微镜进行EDX分析,研究人员既可以提高分析结果质量,同时又能节省宝贵的时间。


2020-03-04 13:23:34 1225 0

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