冠层分析仪的用途

　　冠层分析仪又叫叶面积指数仪，它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数的仪器。

冠层分析仪的作用

　　冠层分析仪可测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数和叶片平均倾角等，可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析可用于不同植物群体结构的比较;可对农田作物群体生长过程进行动态监测适用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学;也适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学。

　　冠层分析仪广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系。

　　冠层分析仪使用400nm-700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录，测量值的单位是平方米·秒上的微摩尔(μmolm²/秒)。由于作物冠层测量仪主要测量作物叶片对光线的拦截，所以该仪器适用于比较低矮的作物，树木等其他较高的植物，一般使用冠层分析仪。

冠层分析仪在果树中的应用

　　叶面积指数是果树冠层生物学特征的一个重要参数，它可以影响果园的产量、品质以及光能的截获，在一定程度上决定了果园的生产效率。测量叶面积指数的方法有直接测量法和间接测量法，直接测量法具有破坏性，且费时费力、不能重复，操作困难难以测量叶面积的动态变化等。间接测量法分为相对生长法和光学法，应用比较广泛。

　　冠层分析仪就是属于光学法的，特点是携带方便，不需要进行额外的资料处理，可以直接给出叶面积指数值，原理是在假定植物冠层内的各元素随机分布，依据冠层间隙度或光学特性反演叶面积指数。缺点是测量所得叶面积指数有着较大的偏差。叶片的聚集效应越强，偏差越大。因此在测量时，一般需要用直接法校正。

　　测量时根据果园的大小。分别设置3-5个测量点，在每个测量点再分别用方框取样法和冠层分析法测量叶面积指数。方框取样法是将方框随机放在树冠上，将方框内的的叶片全部摘下，用叶面积仪测量框内的叶面积，然后根据树冠体积和栽植密度计算叶面积指数。测点的选择与冠层分析仪方法相同。

　　冠层分析仪是分别对应测量天空5个范围的散射辐射，这5个范围的ZX视天顶角分别为7°、23°、38°、53°和68°，分别与冠层上部和下部测量辐射通透密度，并根据转换模型估算叶面积指数。在每一个测点的冠层顶部测一次，下部重复测量6-10次，冠层下方的测量在同一水平面上，且在无直接辐射的条件下进行。为了避免光环境迅速的变化对测量结果的影响，选择无直接辐射的条件下进行，然后用冠层分析仪附带的软件对测量的资料进一步加工以校正估值叶面积指数。

冠层分析仪在水稻中的应用

　　冠层分析仪是测量植物冠层中光线拦截，研究光能资源对水稻促进作用的植物生理仪器，可以使用冠层分析仪来研究水稻等作物的生长发育。要想水稻增产增收，可从以下几点出发：

　　1、冠层分析仪可以实现适宜的叶面积动态。大面积产量不高首先还是叶面积的不足，没有足够叶面积以吸收充分的光能，而叶面积不足的主要原因还是土壤肥料问题，因此需要改良低产土壤，增辟肥源，合理施肥。

　　2、防御气象灾害与病虫灾害。水稻高产田的获得都是在季节适宜、灌排条件良好，以及有效的病虫FZ基础上取得的。而大面积水稻受冷害、旱涝、风害、病虫害威胁甚大。

　　3、改进栽培技术。目前高产水稻都是在先进的栽培技术下取得的，培育壮苗、合理密植、科学地进行肥水管理，以争取合理的穗数，培育壮秆大穗，减少瘪粒，提高粒重。

　　4、调整播栽期，使水稻抽穗灌浆期处在气候上Z有利的时期。

　　5、冠层分析仪可以调整水稻种植制度，以适应当地气候生态条件。

　　6、冠层分析仪分析水稻冠层状况，冠层太大的话就会阻碍阳光照射里层，会影响水稻生长。